HORIBA堀場橢偏儀

Smart SE 是一款通用型薄膜測量工具。測試速度快，準(zhǔn)確。它可以表征幾埃到20µm薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)（n, k）以及薄膜結(jié)構(gòu)特性（如粗糙度、光學(xué)梯度及各向異性等）。

HORIBA堀場橢偏儀Smart SE利用 DeltaPsi2 軟件平臺(tái)在幾分鐘內(nèi)對(duì)450-1000nm的光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行采集、建模分析。自動(dòng)化雙軟件操作平臺(tái)，從簡化的工作流程到研發(fā)，滿足不同層次和需求的客戶。

Smart SE是一款性價(jià)比高的薄膜研發(fā)工具，以經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的價(jià)格提供了研究級(jí)的性能。標(biāo)配一套完整樣品可視化系統(tǒng)，準(zhǔn)確定位分析位置及區(qū)域，7個(gè)不同尺寸的微光斑可用于微區(qū)特征分析。幾秒鐘即可獲得完整的16位穆勒矩陣，用于復(fù)雜樣本的研究。

Smart SE配置靈活、具備多角度測量能力，可方便實(shí)現(xiàn)在線與離線配置切換。是一款針對(duì)單層和多層薄膜進(jìn)行簡單、快速、準(zhǔn)確表征和分析的工具, 可用于在線原為測試。Smart Se可以滿足各類應(yīng)用領(lǐng)域，包括微電子，光伏，顯示，光學(xué)涂料，表面處理和有機(jī)化合物等。

• 快速、準(zhǔn)確

• 易于升級(jí)

• 光斑可視化

各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇)、AND愛安得（電子天平）、SAN-EI三英(點(diǎn)膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機(jī),USHIO牛尾照度計(jì),Tsubosaka壺坂電機(jī),IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機(jī),lambda拉姆達(dá)膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設(shè)備、顯影）、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克（檢查光源）、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子（光學(xué)膜厚儀）、KOSAKA小坂（臺(tái)階儀）、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學(xué)（環(huán)境測定）、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）、yamada山田鹵素強(qiáng)光燈、CEDAR思達(dá)