BDTGP-100型半导体制冷光谱仪冷热台

简要描述:可配合光谱仪使用，体积小变温速度快，适合千研究二氧化钢等半导体材料

制冷方式：半导体

温度范围：-10°C到120°C

温度分辨率：0.1°C

控温精度：±0.1°C

最大加热速率：20°C/min

最大冷却速率：-20°C/min

样品台大小：34*34mm

通光孔直径：Φ6mm

外观尺寸：85*92*17mm

腔体净重：0.2kg

备 注：5°C下结露，0°C下结霜

配套：A2105(标准载玻片)

简要描述:可配合光谱仪使用，体积小变温速度快，适合千研究二氧化钢等半导体材料

制冷方式：半导体

温度范围：-10°C到120°C

温度分辨率：0.1°C

控温精度：±0.1°C

最大加热速率：20°C/min