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ADCMT（Advantest Corporation，愛德萬測試）的直流電壓/電流發(fā)生器（DC Source）以高精度、低噪聲、快速響應(yīng)為核心優(yōu)勢，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體測試、精密電路研發(fā)及校準領(lǐng)域。以下是其核心產(chǎn)品與技術(shù)解析：
1. 主要產(chǎn)品系列與特性
| 型號系列 | 核心功能 | 關(guān)鍵參數(shù) | 典型應(yīng)用場景 |
|---|---|---|---|
| ADCMT 6240系列 | - 高精度電壓/電流輸出 - 四象限工作（源/吸） | 電壓：±200V，分辨率1μV 電流：±1A，分辨率10nA | IC特性分析、傳感器校準 |
| ADCMT 6140系列 | - 高速脈沖模式（μs級切換） - 低噪聲設(shè)計 | 上升時間＜10μs 噪聲＜10μVrms | 功率器件測試（如MOSFET動態(tài)特性） |
| ADCMT 6340系列 | - 多通道同步輸出 - 支持PLC控制 | 4通道獨立/同步輸出 支持SCPI指令 | 產(chǎn)線自動化測試（多DUT并行） |
2. 核心技術(shù)優(yōu)勢
四象限操作：
可同時提供（Source）和吸收（Sink）電流，模擬真實負載條件（如測試電池充電/放電）。低噪聲輸出：
采用線性調(diào)節(jié)技術(shù)，噪聲低至μV級，適合敏感電路測試。高分辨率與精度：
電壓分辨率達1μV，電流分辨率達10nA（6240系列）。
基本精度：±0.02% of setting + 2mV（電壓），±0.05% + 500nA（電流）。
3. 行業(yè)解決方案
半導(dǎo)體測試：
晶圓級參數(shù)測試（如漏電流、閾值電壓測量）。
配合SMU（源測量單元）實現(xiàn)IV曲線掃描。
新能源研發(fā)：
模擬電池充放電曲線（四象限模式）。
精密儀器校準：
作為標準源校準萬用表或數(shù)據(jù)采集設(shè)備。
4. 選型指南
| 需求 | 推薦型號 | 理由 |
|---|---|---|
| 超高精度（nA/μV級） | ADCMT 6242A | 分辨率10nA/1μV，四象限操作 |
| 高速動態(tài)測試 | ADCMT 6141 | 上升時間5μs，支持脈沖模式 |
| 多通道系統(tǒng)集成 | ADCMT 6344 | 4通道同步，兼容LabVIEW/Python控制 |
5. 使用與維護要點
散熱管理：
高功率輸出時需確保通風，避免過熱觸發(fā)保護。校準周期：
建議每年一次（實驗室環(huán)境）或每6個月（產(chǎn)線高頻使用）。探頭選擇：
使用低熱電勢線纜（如選配TL-30）減少測量誤差。
