大量现货：MITUTOYO三丰微细形状测量系统HYPER UMAP 302

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高精度测量：如配备的 MPP - NANO 测头可搭载最小直径 125µm 的测针，能实现细微领域的 3D 扫描测量，测量精度可达 (0.8 + 2L/1000)µm。

多测头结合：结合了影像测头和扫描测头（MPP - NANO、SP25M）等多种测头，既具备影像测量的优势，又能进行高精度的接触式扫描测量，适用于不同类型的测量需求。

光学性能出色：采用与影像测量仪畅销机型 QUICK VISION 系列相同的影像测头，在影像测量方面性能出色；还配备观察摄像头，方便检查工件表面状况，确保测量准确性，也便于测量设置。

适应多种工件：可测量从微型到大型的各种工件，无论是小型的光学元件、精密冲模，还是较大尺寸的工件，都能通过不同的测头和测量方式实现高精度测量。

可测量特殊部位：例如对于小孔径、深孔等特殊部位的测量具有优势，像使用 MPP - NANO 测头的系统可对纵横比高达 17:1 的孔进行接触式扫描测量。

温度适应性好：通过对称结构、均匀材料和温度补偿等技术，保证在 10 - 40oC 的温度范围内具有较高的测量精度，能够适应不同的工作环境温度。

抗污染能力强：采用新开发的三丰绝对刻度，抗污染能力是传统三坐标测量机的两倍，能更好地适应生产现场等复杂环境。

节省安装空间：采用单支撑移动桥架结构，将机器控制器存储柜置于测量台下方，占地面积相比传统移动桥架型减少约 70%。

操作便捷友好：三面开放式架构，便于工件上下测量台，减轻了操作人员的工作量；系统还配备彩色 LCD 触摸屏等，操作简便直观，具有引导工具，方便用户进行操作。

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