渦流陣列無損檢測有哪些優(yōu)勢？

渦流陣列（ECA）是一種無損檢測技術，具有以電子方式驅動并排放置在同一個探頭組件中的多個渦流線圈的能力。探頭中每個單獨的渦流線圈都會產(chǎn)生一個相對于其下方結構的相位和波幅的信號。這種數(shù)據(jù)與編碼位置和時間關聯(lián)，并以C掃描圖像形式表示。大多數(shù)傳統(tǒng)的渦流探傷技術都可以通過使用渦流陣列（ECA）檢測重現(xiàn)，不過，ECA技術具有顯著優(yōu)勢，可提高檢測能力，并大幅節(jié)省時間。

ECA技術包括以下優(yōu)勢特性：

·在保持高分辨率的同時，單次探頭掃查可以覆蓋更大的區(qū)域。

·不太需要復雜的機器人技術來移動探頭，只需簡單的手動掃查就足以完成檢測。

·C掃描成像提高了缺陷探測和定量性能。

·可以使用根據(jù)被檢測工件的輪廓定制的探頭對具有復雜形狀的工件進行檢測。

渦流陣列輔導穿透深度   

渦流密度在材料的整個深度上并不是一成不變的。表面的密度最大，隨著深度的增加，密度呈指數(shù)下降（“趨膚效應"）。標準穿透深度方程（如右圖所示）用于解釋渦流檢測的穿透能力，即隨著頻率、電導率或滲透率的增加，穿透能力會下降。對于較厚的均質材料，標準的穿透深度是渦流密度為材料表面值的37%時的深度。為了檢測材料中非常淺的缺陷，或為了測量薄板的厚度，需要使用非常高的頻率。同樣，為了探測到表面以下的缺陷，或檢測高導電性、磁性或厚材料時，必須使用較低的頻率。

其中：

d = 標準穿透深度（mm）

f = 檢測頻率（Hz）

mr = 相對磁導率（無量綱）

s = 電導率（% IACS）