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产品简介
产地类别 | 进口 | 应用领域 | 化工,能源,电子/电池,电气,综合 |
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近年来,对近红外区域测量的需求不断增加,特别是在显示器和照明市场。
此外,没有任何测量仪器可以轻松准确地测量这一点。
产品介绍
北崎供应TOPCON拓普康近红外光谱仪SR-NIR
北崎供应TOPCON拓普康近红外光谱仪SR-NIR
在这种情况下,我们在SR系列分光辐射度计的技术基础上开发了“近红外分光辐射度计SR-NIR"。
通过将该产品与SR系列光谱辐射计结合使用,现在可以测量380nm至1030nm的光谱辐射亮度。
e 能够测量 FPD 微弱发射的近红外区域
e 高精度测量近红外区域(600 至 1030 nm)的光谱分布 e
与我们的分光辐射度计 SR 系列结合使用时,可从可见光到近红外区域测量外部光谱分布(380-1030nm)
观测各种FPD的近红外输出
e 观测Ne和Ar的发射线输出
e 评估光学薄膜等的近红外传输特性 e
其它光源的近红外光谱测量
光电探测器 | 电子冷却线性阵列传感器 |
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波长色散元件 | 衍射光栅 |
光学系统 | 物镜:f=82mm F2.5,目镜:观察视场5° |
测量角度 | 2°/1°/0.2°/0.1° 电动切换型 |
最小测量直径(mmφ) | 2°: 10.0, 1°: 4.99, 0.2°: 1.00, 0.1°: 0.50 |
测量距离 | 350mm~∞(距物镜硬件的距离) |
测量波长范围 | 600~1030nm |
光谱波长宽度 | 6-8nm(半宽) |
波长分辨率 | 1纳米 |
测量模式 | 自动/手动(存储时间/频率)、外部垂直同步信号输入 |
测量细节 | 光谱辐射亮度:W?sr -1?m -2?nm -1 |
测量范围(*1) | 2°:0.5~3,000 cd/m 2 1°:1~9,000 cd/m 2 0.2°:20~70,000 cd/m 2 0.1°:100~300,000 cd/m 2 |
重复性(*2) | ±2%以内 |
偏振特性 | 光谱辐射率5%以下 |
校准标准 | 我们的校准标准 *标准 A 光,23℃±3℃,65% RH 以下 |
测量时间(*3) | 约 1 至 31 秒 |
界面 | RS-232C、USB 2.0 |
电源 | 专用交流适配器AC100~240V (50/60Hz) |
功耗 | 约36W |
使用条款 | 温度:5~35℃,湿度:80%RH以下,无凝结 |
外形尺寸(宽×深×高) | 150×406×239毫米 |
大量的 | 约5.5公斤 |