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当前位置：深圳秋山工业设备有限公司>>光学器件>>测量仪>> MF-5550-0002/MF-5570-0002日本katsura高精度测量倾斜、位移等仪器
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 环保,能源,电子/电池,电气,综合 |
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日本katsura高精度测量倾斜、位移等仪器 MF-5550-0002/MF-5570-0002 特点介绍
该设备非常适合评估和检查智能手机和其他设备中安装的具有镜头移位图像稳定 (OIS) 的相机模块执行器。
通过使用专用目标，可以高精度、高速地同时测量五个项目：目标物体的倾斜（θX、θY）、位移（Z）和位置（X、Y）。
除了使用激光进行自准直仪角度测量之外，还可以同时测量位移（X、Y、Z）和旋转角度的测量仪器。
隆重推出可实时捕捉一切的创新产品。这些创新产品将您的测量概念提升到一个新的水平。
此外，我们还将介绍一种利用干涉的镜头波前像差测量装置。
日本katsura高精度测量倾斜、位移等仪器 MF-5550-0002/MF-5570-0002 规格参数
MF-5550-0002
主要规格
测量范围
倾斜 (θX-θY)：±60 分钟（圆形范围）
位移 (Z)：±1mm
位置 (XY)：±0.5mm
工作距离：80±0.5mm
输出更新率：10,000次/秒
MF-5570-0002
测量范围
倾斜 (θX-θY)：±60 分钟（圆形范围）
位移 (Z)：±1mm
位置 (XY)：±0.7mm
工作距离：80±0.5mm
输出更新率：10,000次/秒
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