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当前位置：> 供求商机> 厚度测量重复性0.1% 或更低测厚仪
红外透射膜厚度监测器可测量电池隔膜等半透明片材、黑色光刻胶等低反射膜和硅的厚度。 它是一种红外吸收涂层测厚仪，可应用于从实验室级别到生产过程中的在线检查的所有情况。
它是一种红外薄膜测厚仪，采用由紧凑型镜面探头组成的透射光学系统，可通过同时测量 100 多个波长的光谱仪，准确测量薄膜厚度、密度、成分等多个参数。
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由于使用了 30 毫米的小型反射探头，
它可以安装在设备或生产线的狭小空间内。
此外，由于探头仅通过
光纤连接到主机，因此具有出色的耐环境性。
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可实现短至 1 毫秒的高速采样。
可以在生产线上进行实时检测和测量。
由于干涉滤光片不旋转，因此具有出色的耐用性和可靠性。
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| 测量算法 | 校准样品 | 测量目标 |
|---|---|---|
| Beer-Lambert 法 | 1 种 | 仅厚度 |
| 最小二乘回归 | 2 种或更多类型 | 倍数（厚度、密度、特定成分的混合量等） |
可以同时测量厚度和涂层重量。
可以测量硅衬底上黑色光刻胶的薄膜厚度，而使用反射光谱法使用光学干涉涂层测厚仪很难做到这一点
。
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