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当前位置：> 供求商机> 写真化学自动对位功能测厚仪
货物所在地：北京北京市
所在地： 日本
更新时间：2024-11-02 15:32:59
浏览次数：24
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产品简介详细介绍
映射涂层测厚仪能够在最大 300 mm 的晶圆的所有表面上自动映射膜厚测量。 自动对位功能和使用具有高平整度的晶圆卡盘可实现可靠的薄膜厚度测量。 此外，它可以安装在半导体制造设备的负载端口，以在保持清洁度的同时管理制造设备上的薄膜厚度。
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