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　　扫描电子显微镜（SEM）是一种高性能的显微分析设备，其原理、构造与应用如下所述：

　　原理

　　SEM利用高能电子束扫描样品表面，电子束与样品相互作用会产生多种信号，如二次电子、背散射电子和特征X射线等。这些信号被探测器接收并转化为图像或数据，从而反映样品的表面形貌、成分和结构信息。

　　构造

　　SEM主要由电子光学系统、信号收集与显示系统、真空系统、样品室与样品台以及电气系统等部分组成。其中，电子光学系统负责产生、加速和聚焦电子束，以及控制电子束在样品表面的扫描；信号收集与显示系统则负责接收和处理电子束与样品相互作用产生的信号，并在显示屏上展现样品的放大图像；真空系统用于维持高真空环境，以减少电子能量损失和污染；样品室与样品台则用于放置和固定样品；电气系统为整个设备提供电力和控制信号。

　　应用

　　SEM在多个领域具有广泛的应用，如材料科学、生物学、医学、地质学等。在材料科学中，SEM可用于观察材料的微观结构和缺陷；在生物学中，SEM可用于观察细胞、细菌、病毒等生物样品的微观形貌；在医学中，SEM可用于研究组织和细胞的病理变化；在地质学中，SEM可用于分析岩石和矿物的成分和结构。

　　综上所述，扫描电子显微镜凭借其的原理、复杂的构造以及广泛的应用领域，在科研和工业生产中发挥着重要作用。