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系统结合后保留原有AFM之功能
 可结合之光谱包含拉曼、红外光、太赫兹光、荧光与时间解析荧光光谱
 可建立正立或倒立以及同时正倒立显微镜
 雷射照射方式: 穿透、反射以及侧向激发
 可同时进行多点探针扫描
产品简介
详细介绍
• 系统结合后保留原有AFM之功能 • 可结合之光谱包含拉曼、红外光、太赫兹光、荧光与时间解析荧光光谱
• 可建立正立或倒立以及同时正倒立显微镜 • 雷射照射方式: 穿透、反射以及侧向激发 • 可同时进行多点探针扫描
系统架设：
使用侧面照明的多探头无孔成像（NSOM＆THz＆IR）
分析应用：
AFM-NSOM-IR-Raman Performance
AFM-IR mapping of low K films
无锡浩辉者新材料科技有限公司依靠多年材料特性研究的经验及对检测设备及技术的研发与应用，为客户提供材料检测分析仪器及方法。让客户深入了解全面的分析技术，以及其性能限制，为客户的分析需求选择适合的分析仪器。与此同时，我们会帮助辅导客户完成整个分析过程，得到客户所需要的答案及结果。也可依顾客需求，提供完整专业的系统解决方案。