| 产地类别 |
国产 |
应用领域 |
环保,化工,能源,电子/电池,综合 |
photonic-lattice在线/离线双折射映射KAMAKIRI X 舞台
这是一款测量范围为 0 至 130 nm 的低相位差设备，它以 500 万像素的高分辨率高速测量双折射/相位差的分布。
它是一种可以在线安装的类型，光源和测量台可以分开。
photonic-lattice在线/离线双折射映射KAMAKIRI X 舞台
photonic-lattice在线/离线双折射映射KAMAKIRI X 舞台
PA系列是测量范围为0～130nm的低相位差装置，以500万像素的高分辨率高速测量双折射/相位差的分布。
适用于测量相位差较小的物体，如玻璃制品、镜片等。
从显微镜尺寸到大尺寸（约 50 cm），我们备有与测量对象相对应的产品系列
这是一款测量范围为 0 至 130 nm 的低相位差设备，它以 500 万像素的高分辨率高速测量双折射/相位差的分布。
一种可以在显微镜视野中测量双折射的类型。
附带的显微镜可以从奥林巴斯或尼康中选择。
PA-micro-S 是没有显微镜的只有测量头的产品。
这是一款测量范围为 0 至 130 nm 的低相位差设备，它以 500 万像素的高分辨率高速测量双折射/相位差的分布。
它是一种可以在线安装的类型，光源和测量台可以分开。
这是一款测量范围为 0 至 130 nm 的低相位差设备，它以 500 万像素的高分辨率高速测量双折射/相位差的分布。
它是一种可以在线安装的类型，光源和测量台可以分开。
photonic-lattice二维双折射评价系统PA-300系列
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