赛默飞首席专家Eric Van Cappellen 在“The latest trends in (scanning) transmission electron microscopy”的大会报告中，首先追忆了与郭可信先生的渊源。

随后，Eric介绍了在当前生命科学领域，随着对细胞和组织研究的进一步深入，体电子显微镜再次成为趋势，但传统体扫描电子显微镜并不能满足前沿研究的需求。而具有4种可切换离子源(Xe, Ar, N, O)的Hydra Bio Plasma-FIB，有效解决了传统体扫描电子显微镜Z与X-Y方向分辨率不同以及机械变形的问题，可用于冷冻或树脂包埋生物样品更精确的体积成像及冷冻透射电镜三维重构样品的制备。

接着，Eric从电子光学的灵活性，数据收集的灵敏性，信息获得的有效性三个角度介绍了如何解决材料科学领域的应用难题——减少样品的电子束损伤。通过具体的案例，Eric介绍了赛默飞最新的基于AI的图像减噪，高通量高灵敏度低剂量Ultra-X能谱，适用于电子束敏感材料成像的iDPC等有效减少样品的电子束损伤的最新技术。

在下午的茶歇会上， Eric继续以“Strategies to Minimize Beam Damage”为题，进一步详细介绍了最小化电子束损伤的应对策略及其底层原理。包括通过AI进行低剂量图像降噪的原理；Ultra-X的硬件配置及低剂量应用实例；iDPC技术的低剂量高衬度成像原理及其先进性等。

此次大会的赛默飞专场茶歇会上，我们还邀请了上?？萍即笱У耐踔窬淌诖戳颂馕?ldquo;环境扫描电子显微手段在表界面领域的应用与发展”的报告，王教授通过赛默飞独有的场发射ESEM技术，在仓室内通入特定气体可以在铜表面控制生成单层/多层石墨烯及石墨烯纳米带等，并针对生成的不同层石墨烯的性能及原理进行了深入研究，在顶级期刊Nature上发表了多篇文章。

双束电镜产品市场经理Mikhail Dutka介绍了赛默飞双束电镜技术的创新及应用。报告展示了全自动及无Ga离子污染TEM样品制备技术和应用；利用多源等离子FIB的切割SiC、陶瓷、金刚石等样品的对比展示了每种离子源的独特优势，可以选择最合适的离子源来适应更多不同种类的材料刻蚀。报告最后介绍了利用飞秒激光与双束结合实现毫米尺度的高分辨三维重构，在增材制造造、清洁能源、半导体等需要高速大面积切割的方面的应用展示了广阔的应用前景。

赛默飞业务拓展经理孙秀荣以“最新的分析型扫描电镜技术进展”为主题，介绍了实时定量相分布ChemiPhase技术在金属/无机非金属材料中物相鉴别、定量分析及形态学统计上的进展，以及自动颗粒物分析系统Perception在钢铁洁净度、汽车清洁度、锂电池异物分析及枪击残留物评定中的应用。

赛默飞业务拓展经理王超基于真空/惰性气氛传输工作流程，重点介绍了赛默飞氩离子抛光平台Cleanmill和真空/惰性转移系统CleanConnect的技术特点及其在锂离子电池，太阳能电池，MOFs等材料方面的应用案例。实现材料从手套箱到SEM/FIB/TEM的加工表征全过程，为空气敏感材料保驾护航。

文末惊喜

很多老师表示因时间冲突遗憾错过Eric在28日下午茶歇会的报告，希望可以拿到报告文件。如果您也希望得到Eric的报告请扫码提交信息，我们会邮件发给您，谢谢您对赛默飞的支持。

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