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產(chǎn)品分類 品牌分類

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

裂變（Fission）是一個(gè)不穩(wěn)定的重元素的原子核分裂為兩個(gè)質(zhì)量、大小相差不遠(yuǎn)的碎片（輕核），同時(shí)放出大量能量的現(xiàn)象；徑跡（Tracks）是具有很高能量、帶大量電荷的重粒子，通過固體絕緣材料（例如白云母、磷灰石、鋯石等）時(shí)，在其所經(jīng)過的途程中留下輻射損傷的狹窄痕跡。

詳細(xì)介紹

IMEXT FTA

Fission Track Analysis System

產(chǎn)品介紹

IMEXT FTA裂變徑跡分析系統(tǒng)

Fission Track Analysis System

1、裂變徑跡技術(shù)原理 Fission Track Principle

礦物中所含微量鈾的自發(fā)裂變的衰變引起晶格的損傷產(chǎn)生徑跡，測(cè)定礦物的鈾含量和自發(fā)裂變徑跡密度、數(shù)量和長(zhǎng)度、角度，可以確定礦物的年齡。此法用樣量少，可用樣品種類多，測(cè)年范圍可由數(shù)年到幾十億年，特別是在5萬～100MA年期間內(nèi)，測(cè)年效果較其他方法為好，是第四紀(jì)地質(zhì)年代測(cè)定的重要方法之一。

原理示意

樣品示意

2、高整合的自動(dòng)分析系統(tǒng) Automatic Analysis System

系統(tǒng)高度集成智能顯微鏡、攝像機(jī)、電動(dòng)掃描臺(tái)等硬件設(shè)備；項(xiàng)目化管理、流程化操作；主要用于礦物裂變徑跡分析。

系統(tǒng)所配軟件包，專為裂變徑跡應(yīng)用開發(fā)，可完成裂變徑跡顯微鏡鏡下互為鏡像樣品顆粒定位和查找、圖片拍攝；可滿足裂變徑跡測(cè)量的各種需求。

設(shè)備圖：

控制軟件主界面圖：

測(cè)量分析流程：

1) 新建樣品項(xiàng)目，開始裂變徑跡分析；或者打開已有樣品項(xiàng)目，繼續(xù)分析；

2) 樣品全貌圖掃描；

3) 樣品光薄片/云母片定位；

4) 樣品觀察方式配置；樣品拍照模式配置；

5) 目標(biāo)顆粒選擇；

6) 目標(biāo)顆粒Grain/Mice自動(dòng)掃描；

7) 目標(biāo)顆粒裂變徑跡參數(shù)測(cè)量；

8) 裂變徑跡數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)；

9) 專用裂變徑跡分析報(bào)告；

3、樣品全貌圖掃描 Sample MAP

系統(tǒng)支持低倍物鏡下快速掃描樣品薄片，生成樣品全貌圖；包含光薄片Grain、云母片Mice、中間參考片。作為后續(xù)操作粗略定位薄片的參考。

4、樣品定位&切換 Relocation & SWAP

系統(tǒng)支持樣品粗定位和精細(xì)定位兩種模式；確保500X、1000X下能準(zhǔn)確觀察目標(biāo)顆粒。

Relocation模塊滿足了對(duì)互為鏡像云母片上的裂變徑跡觀察。在利用光學(xué)顯微鏡對(duì)云母片損傷產(chǎn)生徑跡進(jìn)行觀察時(shí)，需要對(duì)2片互為鏡像的光薄片/云母片上徑跡進(jìn)行對(duì)照分析，需要進(jìn)行來回切換觀察。該模塊實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化的尋找鏡像及定位，讓研究人員只需專注于徑跡的觀察。針對(duì)大量裂變徑跡的觀察，該模塊提供了記錄功能，可以記錄下樣品所有目標(biāo)顆粒在光薄片和云母片上的位置，對(duì)目標(biāo)顆粒進(jìn)行重定位，方便下次觀察和分析。

5、智能顯微鏡控制 Digtal Microscope Control

系統(tǒng)支持智能顯微鏡控制，支持透射/反射、明場(chǎng)/偏光等觀察方式，與樣品位置Grain/Mice隨動(dòng)，支持智能光強(qiáng)管理，支持不同倍率物鏡中心位置矯正補(bǔ)償。

6、目標(biāo)顆粒選擇 Object Grain Select

系統(tǒng)支持多種方式尋找和選擇目標(biāo)顆粒，用于后續(xù)拍照和測(cè)量。

7、自動(dòng)目標(biāo)顆粒掃描Auto Scanning/Snap

支持單個(gè)顆粒斷層掃描、保存Z-stack圖像序列，支持單顆粒超景深照片合成；支持多顆粒批量掃描，提高工作效率。

掃描過程照片自動(dòng)抓拍、自動(dòng)保存，進(jìn)度狀態(tài)實(shí)時(shí)可見；照片信息存入數(shù)據(jù)庫，方便查詢；提供圖片瀏覽功能，可以實(shí)現(xiàn)顆粒定位回溯、重新拍照等功能；

8、徑跡參數(shù)測(cè)量 Track Measurement

支持多種徑跡參數(shù)的自動(dòng)測(cè)量和人工測(cè)量，包含徑跡數(shù)量、面積、最大，最小卡規(guī)直徑及其比率等顆粒參數(shù)，且可解決裂變徑跡坐標(biāo)、空間長(zhǎng)度、角度、徑跡數(shù)量、晶粒面積及徑跡密度的數(shù)據(jù)測(cè)量問題。