Surtronic DUO属于泰勒霍普森Surtronic系列中的入门级便携设备，主打“操作简便、快速测量、高性价比"，适合中小型企业或对便携性要求高的场景（如生产线、车间）。相比型号（如Surtronic S-100/S-116），它在功能上更简化，但保留了核心的粗糙度测量能力，满足ISO/ASME等标准的基本需求。

核心参数与性能

测量原理：

采用触针式测量技术（标准触针半径通常为5μm），通过触针在表面轮廓上的位移信号转换为粗糙度参数，符合国际标准（如ISO 4287、ASME B46.1）。

测量参数：

可直接显示关键粗糙度参数，包括：

Ra（算术平均粗糙度）：常用的表面粗糙度指标。

Rz（最大高度粗糙度）：轮廓峰谷间的平均高度差。

（部分版本或配置可能支持更多参数，如Rq、Rt等，但基础款以Ra/Rz为主）

测量范围：

Ra：通常为0.05μm~10μm（具体范围可能因型号或校准略有差异）。

Rz：与Ra对应，覆盖常见工业表面要求。

分辨率与精度：

分辨率：Ra/Rz可达0.01μm（高精度需求场景）。

重复性：±5%（典型值，依赖表面条件和操作规范）。

测量速度：

快速扫描模式（如0.5mm/s或1mm/s），单次测量时间通常＜2秒，适合高效现场检测。

传感器与触针：

标配标准触针（金刚石材质，高耐磨性），可选配不同触针长度/角度以适应特殊表面（如深孔、曲面）。