18068309380
當前位置：無錫駿展儀器有限責任公司>>技術文章>>XDLM231菲希爾X射線測厚儀信息
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是應用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量超薄鍍層和微含量而設計，是用于質量控制，質量檢驗和生產監(jiān)控的最合適的測量儀器。
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據不同的預期用途，有不同的版本。 XDLM 231 型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅動的 Z 軸升降系統(tǒng)。
XDLM 232 型配有可手動操控的 X/Y 工作臺，馬達驅動的 Z 軸升降系統(tǒng)。
XDLM 237 型則配備了馬達驅動的 X/Y 工作臺，當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。
請輸入賬號
請輸入密碼
以上信息由企業(yè)自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業(yè)負責，化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規(guī)避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
