Surtronic DUO泰勒霍普森粗糙度仪介绍

SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度仪是英国泰勒公司 新型粗糙度仪,SURTRONIC DUO新型粗糙度仪可测 Ra , Rz 两种参数。Surtronic DUO泰勒霍普森粗糙度仪具有红外接口可在距离被测物 1 米处进行测量。
SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度仪新型粗糙度仪通过仪器底部传感器直接接触被测工件进行测量,其设计可满足不同的技术与工作环境要求。
SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度仪新型粗糙度仪快速测量 在仪器底端接触工件瞬间,即可读出测量值。全部操作步骤仅需简单教授即可

Surtronic Duo泰勒霍普森粗糙度仪是一种高级便携式表面粗糙度测量仪，只需按一键即可测量多个粗糙度参数。这些参数（如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt）会显示在直观的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充电电池，便于在所有环境和表面进行快速、轻松和精确的现场测量。
测量原理
通过采用耐磨的金刚石测针部件，以及精密的机动驱动装置，确保行进正确的水平距离。当测针划过波峰和波谷时，高感应度的压电传感器能检测到它的垂直移动，然后将机械移动转化为电子信号。电子信号将进行数字化处理并发送到微处理器，然后使用标准化算法即时计算表面粗糙度参数。