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当前位置：深圳市科时达电子科技有限公司>>电子元器件>>光电器件>> 德国KSI－ Nano型高分辨率表层缺陷超声波扫描显微镜系统 产品关键词:ksi系统;高分辨率超声波;ksi超声波
紫外-可见-近红外分光光度计LAMBDA 1050+ 产品关键词:近红
美国Agilent Cary 60 紫外可见分光光度计 产品关键词:a
LAMBDA 365紫外可见分光光度计 产品关键词:365?紫外分光光
PerkinElmer LAMBDA 950 紫外分光光度计 产品关键
KSI－Nano型高分辨率表层缺陷超声波扫描显微镜系统
声学显微成像系统和光学显微成像系统的结合
- 换能器频率范围：100MHz——2000MHz频率实现高分辨率
- 探测深度- 特殊平均模式使信噪比更好
- 同步光学成像和超声波成像使样品在结构上、生物化学性能上和机械性能上具有关联性。
- 光声效应增强了对比性
- 放大倍数：1000倍
- 入射光显微镜和倒置光学显微镜可调节
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