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当前位置：无锡骏展仪器有限责任公司>>泰勒霍普森TAYLOR HOBSON粗糙度仪>>Surtronic DUO>> 泰勒霍普森DUO TAYLOR HOBSON
| 测量参数 | Ra:0.1μm～40μm(1μin-1600μin) Rz:0.1μm～199μm(1μin-7800μin) |
| 显示单位 | μm/μin |
| 传感器类型 | 压电式 |
| 测量行程 | 5mm |
| 测量速度 | 2mm/sec |
| 传感器接触力 | 200mg |
| 整机尺寸 | 125×80×38 mm |
| 重量 | 200 gm |
| 仪器范围 | 200μm |
| 分辨率 | 0.01μm |
| 精度 | Ra:读数的±5% Rz:读数的±5% |
| 测量方式 | 压电式 |
| 探头 | 钻石,半径为5μm |
| zui小孔径 | 65mm |
| 电池寿命 | 约500小时或10,000次操作 |
泰勒霍普森DUO TAYLOR HOBSON
英国泰勒-霍普森TAYLOR HOBSON型可分离式Surtronic Duo是一种便携式表面粗糙度测量仪，只需按一键即可测量多个粗糙度参数。这些参数 （如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt）会显示在直观的2.4英寸 LCD彩色屏幕上。新型Surtronic DUO使用大容量充电 电池，便于在所有环境和表面进行快速、轻松和的现场测量。 英国泰勒新型手持式粗糙度仪Surtronic DUO可测量多种粗糙度参数：Ra, Rz, Rp, Rv, Rt, Rz1max, Rsk, Rq, Rku; Pa, Pz, Pp, Pv, Pt（ISO 4287标 准）。
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