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涂層測(cè)厚儀有哪些測(cè)量方法
閱讀：686 發(fā)布時(shí)間：2022-10-20
涂層測(cè)厚儀測(cè)量方法簡(jiǎn)述：
磁性測(cè)厚法
適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測(cè)量精度高。
渦流測(cè)厚法
適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量，此種方法較磁性測(cè)厚法精度低。
超聲波測(cè)厚法
國內(nèi)還沒有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的，國外個(gè)別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無法測(cè)量的場(chǎng)合.但一般價(jià)格昂貴、測(cè)量精度也不高。
電解測(cè)厚法
此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高，測(cè)量起來較其他幾種麻煩。
放射測(cè)厚法
涂層測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀(1張)
此種儀器價(jià)格非常昂貴（一般在10萬RMB以上），適用于一些特殊場(chǎng)合。
光熱測(cè)厚法
基于*熱光學(xué)技術(shù)(ATO)和數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)(DSP)，涂魔師實(shí)現(xiàn)非接觸式涂層無損測(cè)厚技術(shù)。
該系統(tǒng)通過計(jì)算機(jī)控制光源以脈沖方式加熱待測(cè)涂層，其中內(nèi)置的高速紅外探測(cè)器從遠(yuǎn)處記錄涂層表面溫度分布并生成溫度衰減曲線。表面溫度的衰減時(shí)間取決于涂層厚度及其導(dǎo)熱性能。最后利用專門研發(fā)的算法分析表面動(dòng)態(tài)溫度曲線計(jì)算測(cè)量待測(cè)的涂層厚度。