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ANALECT_FT_NIR 紅外光譜儀
堅固，可靠，臺式或機架安裝FTIR/FT-NIR過程分析儀
ANALECT_FT_NIR 紅外光譜儀實時監(jiān)測的物理性質和化學成分的液體和固體都從一個儀器,臺式或機架安裝選項 ,多功能的在線和現場過程監(jiān)控和最終產品檢測。
SpectraRTS
提供靈活的系統設置和控制，廣泛的診斷，易于使用的腳本和強大的DCS通信。交互式通信允許在改變混合類型時自動切換模型集，從而大限度地提高混合測量效率。
分析儀的性能
•干涉儀耳堂IV密封模塊折射掃描設計。帶有固定角立方鏡的
精密交叉滾子軸承。
•光譜范圍:擴展中紅外7400至450 cm-1;近紅外12000 ~ 1200 cm-1。
•分辨率:鍵盤可選擇到1.5 cm-1(未經修飾);2 cm-1(已修訂)。掃描速度:自動優(yōu)化的檢測器類型或軟件可選擇的特定應用。自適應數字伺服驅動器采用激光正交作為正位置參考。
•修正功能:選擇14個鍵盤可選。標準功能。
•紅外源:內部，風冷，高效反射球。
•信號轉換:計算機可選擇的增益，高低通濾波器，延遲補 償。高精度,
24位Sigma Delta ADC。
•采樣光學:內部聚焦光束，外部準直光束。
•游標讀數:連續(xù)，cm-1或納米橫坐標，%T或吸光度單位。
•探測器:標準DTGS熱釋電。
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