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PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位电学测量样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
技术指标
| 电学测量 | 力学操纵 |
| 1.包含一个电流电压测试单元； | 1.探针粗细调方式：全软件操控； |
| 2.电流测量范围：1nA-30mA； | 2.粗调范围：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm； |
| 3.电流分辨率：100fA； | 3.细调范围：XY方向18um，Z方向1.5um； |
| 4.电压输出范围：±10V，±150V； | 4.细调分辨率：XY方向0.4nm，Z方向0.04nm； |
| 5.软件自动测量：I-V、I-t |
产品选型
原位电学测量样品杆 具有单倾、双倾两个版本，用户可根据实验需求自行选择。
泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号样品杆，同时保证透射电镜原有分辨率。
国内部分用户
典型案例
1、透射电镜内的原位电学实验；
2、透射电镜内的原位压缩、拉伸实验。
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