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當(dāng)前位置：安徽奧科試驗(yàn)設(shè)備有限公司>>技術(shù)文章>>高低溫箱的應(yīng)用
高低溫測(cè)試旨在評(píng)估產(chǎn)品在ji端溫度條件（包括高溫和低溫）下儲(chǔ)存、運(yùn)輸及使用的適應(yīng)性和可靠性。該測(cè)試的嚴(yán)苛程度由所設(shè)定的高溫或低溫的具體溫度值以及產(chǎn)品暴露在這些ji端溫度下的持續(xù)時(shí)間所決定。由于大多數(shù)產(chǎn)品都需要在特定的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行存儲(chǔ)或工作運(yùn)行，因此，這種測(cè)試顯得尤為重要。特別是在那些溫度波動(dòng)較大，時(shí)而高溫時(shí)而低溫的環(huán)境中，產(chǎn)品的適應(yīng)性和穩(wěn)定性更是需要通過高低溫測(cè)試來驗(yàn)證。
高低溫循環(huán)測(cè)試
一般來講的話都是天的倍數(shù)，常見的就是72H，96H。要求不一樣,時(shí)間不一樣，有更少或是更高的。
高低溫環(huán)境測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
GB_T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GBT 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
IEC 60068-2-2 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第2-2部分:試驗(yàn) 試驗(yàn)B:干熱
IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：低溫
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