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SH-1半圆试块
产品介绍：
SH-1半圆试块可调整探测范围，测定仪器的水平线性、垂直线性和动态范围，测定斜探头的入射点、折射角及调整探伤灵敏度。
试块参数尺寸：
GB/T 11344-2008
| 4A阶梯： 6.25～25mm | 块 | 480 | |
4B试块： 5～20mm | 块 | 480 | ||
4 阶梯： 0.25-1.00 英寸 | 块 | 480 | 美国常规试块 | |
5A 试块:2.5～12.5mm | 块 | 540 | ||
5B 试块:2～10mm | 块 | 540 | ||
5 阶梯： 0.1-0.5 英寸 | 块 | 540 | 美国常规试块 | |
7A 阶梯： 3～48mm | 块 | 680 | ||
7B 阶梯： 1～10mm | 块 | 680 | ||
GB/T18852-2002《测量接触探头声束特性的参考试块和方法》 | 半圆阶梯试块（HS 试块） | 块 | 1600 | |
横孔试块（SDH 试块） | 块 | 1340 |
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