来自Helmut Fischer的测量及分析仪器
       菲希尔能提供多样的产品种类，包括大量创新性的测试仪器，应用于镀层厚度测量、材料分析和测试、及纳米压痕等领域。您行业中各种应用都可以在这里一站式地得到*解决，从而让您能以高的准确度获得可靠的测试结果。

根据微电阻方法EN14571: 2004，采用微处理器控制的手提式铜箔测厚仪。德国FISCHER菲希尔SR-SCOPE RMP30-S铜板测厚仪-------印制电路板铜厚的测量，该便携式设备采用 4 点电阻法，十分适合测量多层电路板上薄镀层的厚度。这种电路板上的多层铜镀层通常被环氧树脂等绝缘体隔开。SR-SCOPE 的优势是利用电阻法测量不会受到其他层的影响，因此能够准确测定上层面铜层的厚度。适宜探头型号：ERCU N 和 ERCU-D10。   

主要特性：    ※  易于使用的手持式设备，用于准确测量电路板上的镀层厚度    ※  功能原理基于 4 点电阻法，符合 DIN EN 14571 标准    ※ 放入探头后即可自动开始测量    ※ 对小型和大型测量区域提供各种探头    ※ 大型液晶显示器、自动探头识别    ※ 用于测量和超出限制的声学信号、外部监测    ※ 统计评估与存储,多达100个应用程序中存储至多10000个测量值,至多1000个块    ※ 经过认证的Cu / Iso标准的校准提供了测量结果的可追溯性    ※ 微米和密耳之间可切换的测量单位    ※ 8显示语言可选、双向的RS232口用于PC或打印机连接。

探头ERCU-D10 603-387  1） Kal-S ERCU Cu / Iso5μm（0.2密耳）603-175   2） Kal-S ERCU Cu / Iso12μm（0.5密耳）603-176   3） Kal-S ERCU Cu / Iso18μm（0.7密耳）603-177   4） Kal-S ERCU Cu / Iso35μm（1.4密耳）603-178   5） Kal-S ERCU Cu / Iso70μm（2.8密耳）603-179   6） Kal-S ERCU Cu / Iso105μm（4.2密耳）603-180   7)   Kal-S ERCU Cu / Iso140μm（5.6密耳）603-668

技术参数：
根据微电阻方法EN14571: 2004，
采用微处理器控制的手提式铜箔测厚仪。
电源供电通过电池或交流稳压器。
? 用于测量数据和文字显示的大液晶显示器，  有两条双行16个字母显示，分别显示测量参数和操作指导等。
? 能记忆100个应用程式和在大1,000个数据块中的多10,000个测量数据。动态的存储器管理。
? 测量数据块的储存带日期及时间特征。

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主要特性：    ※  易于使用的手持式设备，用于准确测量电路板上的镀层厚度    ※  功能原理基于 4 点电阻法，符合 DIN EN 14571 标准    ※ 放入探头后即可自动开始测量    ※ 对小型和大型测量区域提供各种探头    ※ 大型液晶显示器、自动探头识别    ※ 用于测量和超出限制的声学信号、外部监测    ※ 统计评估与存储,多达100个应用程序中存储至多10000个测量值,至多1000个块    ※ 经过认证的Cu / Iso标准的校准提供了测量结果的可追溯性    ※ 微米和密耳之间可切换的测量单位    ※ 8显示语言可选、双向的RS232口用于PC或打印机连接。

探头ERCU-D10 603-387  1） Kal-S ERCU Cu / Iso5μm（0.2密耳）603-175   2） Kal-S ERCU Cu / Iso12μm（0.5密耳）603-176   3） Kal-S ERCU Cu / Iso18μm（0.7密耳）603-177   4） Kal-S ERCU Cu / Iso35μm（1.4密耳）603-178   5） Kal-S ERCU Cu / Iso70μm（2.8密耳）603-179   6） Kal-S ERCU Cu / Iso105μm（4.2密耳）603-180   7)   Kal-S ERCU Cu / Iso140μm（5.6密耳）603-668

 技术参数：
根据微电阻方法EN14571: 2004，
采用微处理器控制的手提式铜箔测厚仪。
电源供电通过电池或交流稳压器。
? 用于测量数据和文字显示的大液晶显示器，  有两条双行16个字母显示，分别显示测量参数和操作指导等。
? 能记忆100个应用程式和在大1,000个数据块中的多10,000个测量数据。动态的存储器管理。
? 测量数据块的储存带日期及时间特征。

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来自Helmut Fischer的测量及分析仪器
       菲希尔能提供多样的产品种类，包括大量创新性的测试仪器，应用于镀层厚度测量、材料分析和测试、及纳米压痕等领域。您行业中各种应用都可以在这里一站式地得到*解决，从而让您能以高的准确度获得可靠的测试结果。