垂直磁各向異性評價系統(tǒng) BH-R810( 顯微鏡/測振/磁光克爾) 參考價：面議
垂直磁各向異性評價系統(tǒng) BH-R810( 顯微鏡/測振/磁光克爾)產(chǎn)品總覽在固定磁場方向下具有旋轉(zhuǎn)樣品架的角度依賴性分析系統(tǒng)。
熱輔助磁記錄介質(zhì)的非接觸HAM/RTAMR評估系統(tǒng)( 顯微鏡/測振/磁光克爾) 參考價：面議
熱輔助磁記錄介質(zhì)的非接觸HAM/RTAMR評估系統(tǒng)( 顯微鏡/測振/磁光克爾)產(chǎn)品總覽產(chǎn)生磁場±6.5T的熱（Thermal）輔助磁記錄介質(zhì)（HAMR...
軟磁層評價系統(tǒng) BH-618HS-P20（ 顯微鏡/測振/磁光克爾） 參考價：面議
軟磁層評價系統(tǒng) BH-618HS-P20（ 顯微鏡/測振/磁光克爾）產(chǎn)品總覽軟磁層的非接觸式評估系統(tǒng)，例如具有映射和傾斜角測量功能的硬盤介質(zhì)中的 SUL。
垂直磁記錄介質(zhì)評價體系 BH-810CPC（ 顯微鏡/測振/磁光克爾） 參考價：面議
垂直磁記錄介質(zhì)評價體系 BH-810CPC（ 顯微鏡/測振/磁光克爾）產(chǎn)品總覽具有映射評估功能的硬盤垂直記錄介質(zhì)（PMR）非接觸評估系統(tǒng)。
微型克爾環(huán)路測量系統(tǒng) BH-PI920 系列（ 顯微鏡/測振/磁光克爾） 參考價：面議
微型克爾環(huán)路測量系統(tǒng) BH-PI920 系列（ 顯微鏡/測振/磁光克爾）產(chǎn)品總覽基于二極管激光器的克爾環(huán)路測量系統(tǒng)?？蛇M行幾微米尺度的顯微局部測量。
克爾環(huán)路測量和域觀測系統(tǒng) BH-1071（顯微OCT掃頻測振/磁光克） 參考價：面議
克爾環(huán)路測量和域觀測系統(tǒng) BH-1071（顯微OCT掃頻測振/磁光克）用于動態(tài)（實時）磁疇觀測和顯微克爾環(huán)測量的組合系統(tǒng)。
基于激光GHz聲波振動觀測系統(tǒng) 500MHz～6GHz（顯微OCT掃頻測振/磁光克） 參考價：面議
基于激光GHz聲波振動觀測系統(tǒng) 500MHz～6GHz（顯微OCT掃頻測振/磁光克）基于激光的觀測系統(tǒng)，專門設計用于顯示基于電介質(zhì)/壓電的高頻設備的表面聲波 s...
用于晶圓的縱向克爾效應量測系統(tǒng) BH-618SK（顯微OCT掃頻測振/磁光克） 參考價：面議
用于晶圓的縱向克爾效應量測系統(tǒng) BH-618SK（顯微OCT掃頻測振/磁光克）用于8英寸或12英寸晶圓的硬盤磁頭和磁傳感器目標映射測量的非接觸式評估系統(tǒng)。
用于晶圓的極向克爾效應測量系統(tǒng) BH-810CPC25（顯微OCT掃頻測振/磁光克） 參考價：面議
用于晶圓的極向克爾效應測量系統(tǒng) BH-810CPC25（顯微OCT掃頻測振/磁光克）用于磁性半導體的 8 英寸或 12 英寸晶圓目標映射測量的非接觸式評估系統(tǒng)。
FS70L4 用于半導體檢測顯微鏡（顯微OCT掃頻測振） 參考價：面議
FS70L4 用于半導體檢測顯微鏡（顯微OCT掃頻測振）特點采用Mitutoyo遠場校正鏡頭三端輸出設計可輕松接收視頻轉(zhuǎn)盤可接最多四個物鏡
極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學 無損亞納米級次表面成像) （顯微OCT 參考價：面議
極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學 無損亞納米級次表面成像) （顯微OCT掃頻測振）產(chǎn)品總覽三維無損成像技術在材料科學和醫(yī)學等許多應用...
中紅外MIR光電探測器 2.6-4.6um (TO-18 光敏直徑0.5mm) 參考價：面議
筱曉(上海)光子技術有限公司是一家被上海市評為高新技術企業(yè)的專業(yè)光學服務公司，業(yè)務涵蓋設備代理以及項目合作研發(fā)，建有*的AOL(Advanced Optical...
FS70L-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 TV接口激光) 參考價：面議
FS70L-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 TV接口激光) 特點采用Mitutoyo遠場校正鏡頭三端輸出設計可輕松接收視頻轉(zhuǎn)盤可接最多四個物鏡
5