NanoScan 2s Si/3.5/1.8 扫描式激光光束轮廓分析仪

NanoScan狭缝扫描式光束轮廓分析仪通过其硅探测器，精确捕获和分析190nm - 1100nm的波长。该分析仪包括适合于小光束的狭缝尺寸、近实时数据捕获率、可选的功率测量功能等特征，且可在连续或kHz脉冲模式下工作，非常适合于对UV、VIS和NIR激光进行全面分析。

光束尺寸7µm至~2.3mm

功率级范围为~10nW至~10W

USB 2.0接口

包含NanoScan标准或专业软件

PH00456

NS2s-SI/3.5/1.8-STD

狭缝扫描式小光束轮廓分析仪：硅探测器，3.5mm孔径，1.8µm狭缝

PH00464

NS2s-Si/3.5/1.8-PRO

狭缝扫描式小光束轮廓分析仪：硅探测器，3.5mm孔径，1.8µm狭缝

产品规格

产品名称：NanoScan 2s Si/3.5/1.8

传感器类型：Silicon Photodetector

光谱范围：190 to 1100 nm

狭缝尺寸：1.8 µm

孔径尺寸：3.5 mm

光束尺寸：7 μm to 2.3 mm

扫描头尺寸：83 mm

功率范围：10 nW to 10 W

通信：USB 2.0