目錄:江蘇布魯克電子有限公司>> Solarius AOP 雙面厚度檢測設(shè)備 模塊化設(shè)計
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
Solarius AOP 雙面厚度檢測設(shè)備 模塊化設(shè)計
AOP雙面厚度檢測設(shè)備能同步非接觸式測量產(chǎn)品表面和底面的對應(yīng)位置,有效避免由于接觸區(qū)域受力不均勻產(chǎn)生支撐面變形導(dǎo)致的測量誤差。不但能得到產(chǎn)品上每一個點的厚度值,還能分析得到平面度,平行度和每個面的幾何尺寸。
● 快速準(zhǔn)確的厚度測量
● 模塊化設(shè)計
● 高效率的大測量面積
● 靈活且易于自動化
● 定制的用戶界面
● 定制數(shù)據(jù)分析
● 非接觸非破壞性
AOP-厚度平臺配了高精度XY工作臺,測量范圍最大為400x400毫米。兩個高速線或點傳感器可實現(xiàn)2至145毫米的高度測量范圍,垂直分辨率為0.2至5微米。Solarius SolarScan軟件提供了自動化功能以及定制的配方。模塊化的系統(tǒng)設(shè)計為定制分析工具提供了較大的靈活性。
Solarius AOP 雙面厚度檢測設(shè)備 模塊化設(shè)計
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