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位移探針臺(tái)有什么作用？
閱讀：546 發(fā)布時(shí)間：2023-2-8
半導(dǎo)體測(cè)試是半導(dǎo)體生產(chǎn)過(guò)程中的重要環(huán)節(jié)，其測(cè)試設(shè)備包括測(cè)試機(jī)、分選機(jī)、探針臺(tái)。作為半導(dǎo)體封測(cè)行業(yè)三大設(shè)備之一，探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)以及光電行業(yè)的晶圓、芯片等器件的測(cè)試，研發(fā)難度大，國(guó)產(chǎn)化率低，進(jìn)口依賴(lài)度高，它的品質(zhì)和精度直接決定測(cè)試可靠性與否。
探針臺(tái)廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、 高速器件的精密電氣測(cè)量，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。主要是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。
位移探針臺(tái)可以在測(cè)試準(zhǔn)備和測(cè)試過(guò)程中準(zhǔn)確移動(dòng)探針位置，實(shí)現(xiàn)微米級(jí)別的電極接觸；同時(shí)探針前端可調(diào)整角度和長(zhǎng)度，從而適應(yīng)樣品范圍更加廣泛。
探針臺(tái)可以固定晶圓或芯片，并精確定位待測(cè)物。手動(dòng)探針臺(tái)的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中，并使用顯微鏡將探針*端放置到待測(cè)物上的正確位置。一旦所有探針*端都被設(shè)置在正確的位置，就可以對(duì)待測(cè)物進(jìn)行測(cè)試。
本公司提供的位移探針臺(tái)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、生命科學(xué)、食品研究、藥物研發(fā)、地質(zhì)分析、高分子聚合物、航空航天、冶金、液態(tài)晶體、生物學(xué)等各種研究領(lǐng)域。