• 符合 IEEE 1149.1 标准
• 执行以下测试：
  扫描路径完整性测试
  连接测试
  上电短路
  互连测试
  总线测试

IEEE 1149.1 标准在 1990 年获得电气电子工程师协会（IEEE）批准，使您无需了解器件的核心逻辑功能便可对器件进行测试。这主要是通过将一连串寄存器串联使用而实现，每个寄存器都与器件的一个引脚相关联。这个边界寄存器位于器件的核心逻辑单元和通向器件封装外部的引脚之间。边界寄存器的这些特性由 TAP 控制器控制，而整个体系结构全部是在器件中的芯片内部实现的。（图 1）

通过连接两个或两个以上有边界扫描功能的器件（图 2），可形成一个互连节点。在制造业中，测试主要用于发现短路和开路缺陷，而且这是通过测试 IC 间互连节点比特的特定顺序来实现的。利用特殊的输入模式的类型（一种特定模式），通过对相应输出的判别，可以确定缺陷的种类和位置。

边界寄存器可以驱动和接收信号，因此无需互连节点的物理测试接入。

在 Keysight ICT 系统中实施 IEEE 1149.1 意味着能够根据此标准自动执行测试。更大的好处是非边界扫描节点可与边界扫描节点串联在一起进行测试，从而提高测试覆盖范围。由于这个“在 ICT 本地”的实施，可以为用户提供更高效的解决方案。