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| 供货周期 | 一个月 | 应用领域 | 医疗卫生,能源 |
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DriveThru 测试支持用户使用 VTEP 技术通过串联元器件（例如电阻器、电容器和电感器）测试器件。在没有针对集成电路和/或连接器的直接测试接入时，DriveThru 通过提供测试它们的方法，扩展了 VTEP 的功能。实际上，它使用串联元器件的另一端上的测点，以产生所需的激励。这将有助于实现 VTEP 测试，同时还可测试串联元器件是否存在。
产品简介
详细介绍
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是德keysight DriveThru 测试方案
描述
DriveThru 测试支持用户使用 VTEP 技术通过串联元器件（例如电阻器、电容器和电感器）测试器件。在没有针对集成电路和/或连接器的直接测试接入时，DriveThru 通过提供测试它们的方法，扩展了 VTEP 的功能。实际上，它使用串联元器件的另一端上的测点，以产生所需的激励。这将有助于实现 VTEP 测试，同时还可测试串联元器件是否存在。
DriveThru 特别适用于多节点电路板设计，其中在驱动器引脚上放置了敏感（small-valued）串联阻尼电阻，以吸收高速数字设计中的作用。
技巧：通常使用电阻包。一个好的 DFT 技巧是预留一个子电阻器两端的测试接入以进行模拟测量。使用 DriveThru 测试剩余子电阻器。通过这种方法，用户现在可以探测一个电阻包中每个子电阻器的存在/导电性，并且可以对电阻值进行典型测量，同时减少所需的测试接入。同样的技巧也适用于电容器和电感器。
是德keysight DriveThru 测试方案