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艾克賽普多通道光電器件測(cè)試解決方案
閱讀：378 發(fā)布時(shí)間：2024-8-13
隨著光通信行業(yè)的核心組件光模塊邁向800G/1.6T的時(shí)代，光模塊的通道數(shù)量逐漸增加，同時(shí)，隨著硅光技術(shù)的發(fā)展，器件密度也顯著提高。這為光電器件或硅光芯片的測(cè)試要求，比如激光器和調(diào)制器的LIV掃描測(cè)試帶來(lái)了更高的挑戰(zhàn)，需要測(cè)試設(shè)備具備更高的通道密度、更小的體積、更快的測(cè)試速度以及更高的測(cè)量精度。
一、20路并行使用的SMU源表需要占用多少體積?
二、PXI平臺(tái)-SMU源表
PXI平臺(tái)提供高精度和高通道密度的SMU源表，可以滿(mǎn)足硅光芯片和光電器件DC測(cè)試需求。結(jié)合配套的Optoelectronic Component Test Software，實(shí)現(xiàn)快速的測(cè)試開(kāi)發(fā)和部署，加速產(chǎn)品上市時(shí)間。
三、PXI平臺(tái)-其他電學(xué)與光學(xué)儀表
PXI平臺(tái)同時(shí)支持豐富的光學(xué)儀器儀表，可覆蓋硅光芯片的典型測(cè)項(xiàng)。通過(guò)進(jìn)一步的集成搭建更緊湊、高效協(xié)同的光模塊測(cè)試系統(tǒng)。
