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2021/12/17
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這個(gè)視頻介紹了CPS納米粒度分析儀在低密度樣品下的分析過程。差速沉淀法過去一般用于測量密度大于分散介質(zhì)液體密度大于分散介質(zhì)液體密度的顆粒，CPS開發(fā)了一項(xiàng)新的Patent技術(shù)（US Patent5786898）.很多常規(guī)的差速沉淀法很難或者不可能分析的材料（例如油乳液、蠟乳液、粘性乳液或脂質(zhì)體），現(xiàn)在可以方便的使用CPS進(jìn)行分析，而且精度很高。
CPS系統(tǒng)使用已知的標(biāo)定顆粒進(jìn)行標(biāo)定，與美國國家標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)研究院(NIST)相兼容的標(biāo)準(zhǔn)保證了分析結(jié)果的一致性。使用內(nèi)標(biāo)法，也即把已知標(biāo)定顆粒與待分析樣品相混合，所得的峰值結(jié)果可以達(dá)到±0.25%的精度。
CPS開發(fā)了一種特殊的圓盤設(shè)計(jì)使得在分析過程中可以調(diào)節(jié)圓盤的轉(zhuǎn)速，而不會(huì)對(duì)沉降液體產(chǎn)生擾動(dòng)，轉(zhuǎn)速可以在20 倍范圍內(nèi)升高或者降低，這樣一來就使得分析的動(dòng)態(tài)范圍幾乎增大了20倍。一般離心式分析儀的動(dòng)態(tài)范圍為40，但是 CPS系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)范圍可以超過1000。過去很多需要消耗整夜時(shí)間而且低精度的測量，現(xiàn)在可以使用示差沉降法快速測量，而得到高精度的結(jié)果。
CPS納米粒度分析儀的光學(xué)系統(tǒng)和電路經(jīng)過精心設(shè)計(jì)以降低信號(hào)中的噪聲，信噪比通常為50000左右，低噪聲使得系統(tǒng)具有很高的靈敏度，可檢測窄峰的重量通常小于0.01微克，這使得對(duì)于微克樣品的常規(guī)高精度分析變得可行。
