WPA-200是Photonic lattic公司采用自研的光子晶體技術(shù)，可測量相位差（光程差）、可快速自動測量應(yīng)力雙折射的大小、方向和分布面測量、可一次測量視野范圍內(nèi)樣品的全部數(shù)據(jù)具備點(diǎn)、線、面、3D的分析功能三波長可量測0-3500nm，可拓展至10000nm可輸出光程差（nm）、偏振角度（°）、應(yīng)力（Mpa）、應(yīng)力雙折射（nm/mm）。數(shù)秒給出被測產(chǎn)品的應(yīng)力雙折射大小和分布信息。

WPA-200折射率橢偏儀、偏振角、相位差測試儀特點(diǎn)

雙折射測量儀WPA-200特點(diǎn)

操作簡單，測量速度可以快到3秒，

采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。

測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。

維護(hù)簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。

雙折射測量儀WPA-200主要應(yīng)用

光學(xué)零件（鏡片、薄膜、導(dǎo)光板）

透明成型品（車載透明零件、食用品容器）

透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL）

透明基板（玻璃、石英、藍(lán)寶石、單結(jié)晶鉆石）

有機(jī)材料（球晶、FishEve）

參數(shù)指標(biāo)

WPA-200兼容相位差軸方向與應(yīng)力檢測儀