目录:上海波铭科学仪器有限公司>>光谱系统>>显微缺陷膜厚>> 分光辐射照度测量系统
该检测器
是一种高性能的分光光度计，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等方面取得了多项成果。
覆盖从紫外线到可见光和可见光到红外线的宽波长范围
带软件的样品照明电源，测量仪器批量控制
LIV测量，脉冲点测量，样品温控测量
设备校准的标准灯由我们自己的部门提供，并由 JCSS 校准公司注册。
照度、辐照度
光谱数据（光谱辐照度）
其他测量项目
三刺激值 XYZ、色度坐标 xy、uv、
u’v’相关色温、Duv、主波长、刺激纯度 显
色指数 Ra、R1 至 R15
峰值波长、半宽
光子通量密度 PFD、光合光子磁通密度PPFD
半导体晶圆的面内分布测量
玻璃基板的面内分布测量
实时测量
流向品质管理
真空室适用
实时测量
宽度方向品质管理
超硬涂层的膜厚解析
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