光电流测试是一种用于测量器件或材料的光电性能的测试方法，主要应用于半导体器件、光电器件、太阳能电池等领域。
主要原理：
光电流测试的原理是利用光照射器件或材料后，通过测量器件或材料的电流输出来判断其光电性能。测试时，光源会照射在待测试样品上，产生电子和空穴对并使其发生光电效应，从而产生电流输出。根据电流输出的大小和特征，可以判断样品的光电性能和特性参数。
光电流测试
主要步骤：
(1)准备测试样品：准备待测试的器件或材料，并将其放置在测试台上。
(2)设置测试条件：根据测试要求，设置光源的光强、波长、照射时间等测试条件。
(3)进行测试：打开光源，照射待测试样品，记录测试数据。
(4)分析测试结果：根据测试数据，分析样品的光电性能和特性参数，如响应时间、量子效率、光电转换效率等。
S-LBIC光电流测试简介
• 宽光谱范围(200~14000nm可选)，适用面广
• 调制法测量技术，提升测量结果信噪比
• 开机即用的Turnkey系统设计，维护简单
• 监视光路，方便样品定位
• 全反射光路设计，优化光斑质量
• 高稳定性光源，降低背景噪声影响
• 标准测量软件，数据导出格式支持第三方软件
光电流测试应用领域：
• 二维材料，太阳能电池，纳米光子学，光电器件，PN结器件…
特点：
• 微米级空间分辨率
• 连续/脉冲激光可选
• 波长连续可调的超连续谱光源可选
• nA、pA、fA不同精度的源表可选
• 可以测量不同偏压下的光电流图像/光谱响应度
S-LBIC显微光电流成像系统
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