Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀通過中國計(jì)量院和ECAC檢測(cè)

隨著納米領(lǐng)域的不斷發(fā)展，納米顆粒在光學(xué)、電學(xué)、生物、環(huán)境等科研項(xiàng)目中備受關(guān)注。氣溶膠粒子的差分電遷移率分級(jí)與分析，被應(yīng)用于環(huán)境監(jiān)測(cè)領(lǐng)域納米到微米的氣溶膠粒子測(cè)量中，基于其簡(jiǎn)單的物理原理，而成為氣溶膠領(lǐng)域的重要組成部分，如氣溶膠儀器、基于氣溶膠的材料生產(chǎn)、半導(dǎo)體工業(yè)污染控制、大氣氣溶膠、工程化納米粒子表征等。同時(shí)，帶電粒子的電遷移率分級(jí)可生成粒徑可知的單分散粒子，以用于校準(zhǔn)其他儀器。

近日，Palas® SMPS 掃描電遷移率粒徑譜儀通過了中國計(jì)量科學(xué)研究院的檢測(cè)認(rèn)定，并獲得了其頒發(fā)的校準(zhǔn)證書。早前，SMPS在歐洲氣溶膠校準(zhǔn)表征中心（ECAC）檢測(cè)機(jī)構(gòu)TROPOS的測(cè)試結(jié)果同樣顯示了優(yōu)異的臺(tái)間差/平行性數(shù)據(jù)。該實(shí)驗(yàn)室的結(jié)果再次證明Palas®掃描電遷移率粒徑譜儀的準(zhǔn)確和可靠性。

定徑和計(jì)數(shù)準(zhǔn)確

此次中國計(jì)量科學(xué)研究院的校準(zhǔn)參照J(rèn)JF 1864-2020氣溶膠粒徑譜儀校準(zhǔn)規(guī)定，分別從粒徑測(cè)量示值誤差、顆粒技術(shù)效率和計(jì)數(shù)重復(fù)性多個(gè)校準(zhǔn)項(xiàng)目進(jìn)行檢測(cè)。以測(cè)量粒徑測(cè)量示值誤差為例：SMPS 的標(biāo)準(zhǔn)值為72.1nm，所測(cè)量到的值是74.989nm，示值誤差在4.0%。顆粒計(jì)數(shù)效率方面：SMPS 的標(biāo)準(zhǔn)值為1014個(gè)/cm³，所測(cè)量到的值是1010個(gè)/cm³，計(jì)數(shù)效率為99.6%。如下圖所示，中國計(jì)量院校準(zhǔn)結(jié)果報(bào)告證明了Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀的兩個(gè)特點(diǎn)：1. 定徑準(zhǔn)確；2. 計(jì)數(shù)準(zhǔn)確。

優(yōu)異的臺(tái)間差/平行性

早前，SMPS在歐洲氣溶膠校準(zhǔn)表征中心（ECAC）檢測(cè)機(jī)構(gòu)TROPOS的測(cè)試結(jié)果同樣顯示了良好的臺(tái)間差/平行性數(shù)據(jù)。如下圖所示，帕剌斯送檢的10套儀器線性均<±5%，符合且優(yōu)于CEN/TS 16976標(biāo)準(zhǔn)。Palas®能夠?yàn)榭蛻籼峁┮?guī)范、穩(wěn)定、優(yōu)良的服務(wù)，為科研和質(zhì)量控制等領(lǐng)域提供保障。

符合規(guī)范的儀器品牌

Palas®產(chǎn)品可滿足JJF 1562—2016《凝結(jié)核粒子計(jì)數(shù)器校準(zhǔn)規(guī)范》、JJF 1800—2020《氣溶膠光度計(jì)校準(zhǔn)規(guī)范》、ISO 15900:2009《 氣溶膠顆粒粒徑分布的測(cè)量差分電遷移法》，JF 1864-2020《氣溶膠粒徑譜儀校準(zhǔn)規(guī)范》等相關(guān)規(guī)范要求來協(xié)助計(jì)量檢測(cè)專家完成顆粒物檢測(cè)設(shè)備的校準(zhǔn)。Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀已被計(jì)量院用于呼吸防護(hù)過濾效率測(cè)試儀的校準(zhǔn)和測(cè)試等，為各種檢測(cè)校準(zhǔn)任務(wù)提供技術(shù)支持。

SMPS 掃描電遷移率粒徑譜儀

Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀，采用納米顆粒測(cè)量系統(tǒng)，可測(cè)量4nm到1200nm的氣溶膠粒徑分布，可以提供穩(wěn)定的粒徑分析和計(jì)數(shù)功能的同時(shí)，原始通道高達(dá)256個(gè)，能夠?qū)崿F(xiàn)高粒徑分辨率。SMPS全系列多組合符合不同濃度、粒徑分布范圍的氣溶膠分析需求，優(yōu)點(diǎn)多多。例如，它可靈活搭載預(yù)處理裝置（如稀釋裝置等），且其操作界面為桌面式設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)便易學(xué)。憑借其開放式數(shù)據(jù)文件，可讀取和分析數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)自檢測(cè)和校準(zhǔn)。此外，它具備的靈活性和兼容性，可以與市場(chǎng)主流計(jì)數(shù)器兼容。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
•    粒徑分布從4nm到1,200nm
•    連續(xù)和快速掃描測(cè)量原理
•    高分辨率，最多256通道（128通道/十倍粒徑）
•    適用于高達(dá)10⁸ 顆粒/cm3的濃度
•    可連接其他制造商的DMA和納米粒子計(jì)數(shù)器
•    圖形顯示測(cè)量值
•    直觀操作，使用7英寸觸摸屏和GUI
•    集成數(shù)據(jù)記錄儀
•    支持多種接口和遠(yuǎn)程訪問
•    低維護(hù)
•    功能可靠
•    減少您的運(yùn)營費(fèi)用

應(yīng)用領(lǐng)域
•    過濾測(cè)試
•    氣溶膠研究
•    環(huán)境與氣候研究
•    吸入實(shí)驗(yàn)
•    室內(nèi)和工作場(chǎng)所測(cè)量

Palas®將定期安排針對(duì)環(huán)境空氣顆粒物連續(xù)自動(dòng)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)、SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀、Promo®氣溶膠粒徑譜儀、氣溶膠發(fā)生器和稀釋系統(tǒng)，以及ISO 16890濾材過濾性能測(cè)試臺(tái)MFP 3000 G、ISO 29463-3 HEPA/ULPA濾材過濾性能測(cè)試臺(tái)MFP Nano plus 4000、ISO 17536油霧分離器過濾性能測(cè)試臺(tái)HMT 1000等氣溶膠測(cè)量解決方案的在線中英文網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)。歡迎您注冊(cè)參會(huì)，盡快獲悉在線研討會(huì)信息！

主題： Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀

時(shí)間：2022年11月18日，周五 15: 00 – 16: 00

主講人：鄧珺 女士

Palas®中國環(huán)境和汽車業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理

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