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深圳市中圖儀器股份有限公司

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  • 半導體晶圓粗糙度表面形貌測量設備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000半導體晶圓粗糙度表面形貌測量設備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓測量設備晶圓形貌測量設備晶圓粗糙度測量設備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)半導體晶圓檢測
    2025/4/8 9:20:401223

  • 晶圓翹曲度表面形貌檢測設備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000系列
    WD4000晶圓翹曲度表面形貌檢測設備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建。它采用的高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立3D ...
    型號： WD4000系列 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓檢測設備晶圓翹曲度檢測設備晶圓表面形貌檢測設備無圖晶圓表面形貌測量系統(tǒng)晶圓形貌測量設備
    2025/4/8 8:42:57783

  • 晶圓厚度粗糙度微納三維形貌測量儀器 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000系列
    WD4000晶圓厚度粗糙度微納三維形貌測量儀器自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的...
    型號： WD4000系列 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓厚度測量儀器晶圓粗糙度測量儀器晶圓三維形貌測量儀器晶圓測量儀器無圖晶圓形貌測量系統(tǒng)
    2025/4/8 8:20:11719

  • 晶圓制程檢測設備幾何量測系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000晶圓制程檢測設備幾何量測系統(tǒng)通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓檢測設備晶圓幾何量測設備晶圓檢測系統(tǒng)晶圓幾何量測設備無圖晶圓幾何形貌量測系統(tǒng)
    2025/4/8 7:53:25732

  • 無圖晶圓粗糙度測量設備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000無圖晶圓粗糙度測量設備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、平...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓粗糙度測量設備晶圓測量設備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓粗糙度測量晶圓檢測設備
    2025/4/8 7:26:54847

  • 晶圓表面形貌參數(shù)測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000晶圓表面形貌參數(shù)測量儀通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效防...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓形貌測量儀晶圓表面測量儀無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量設備晶圓表面測量儀
    2025/4/7 21:49:21783

  • 晶圓表面厚度翹曲度測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000晶圓表面厚度翹曲度測量系統(tǒng)通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓表面測量系統(tǒng)晶圓厚度測量系統(tǒng)晶圓翹曲度測量系統(tǒng)無圖晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓幾何量測系統(tǒng)
    2025/4/7 21:21:35704

  • 芯片半導體晶圓非接觸式光學3D表面輪廓儀 參考價： ￥960000

    參考價： 960000 型號：SuperViewW1
    中圖儀器SuperViewW系列芯片半導體晶圓非接觸式光學3D表面輪廓儀以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并...
    型號： SuperView... 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    芯片光學輪廓儀半導體晶圓光學輪廓儀非接觸式光學輪廓儀晶圓3d表面輪廓儀半導體晶圓輪廓儀
    2025/4/7 20:54:45961

  • 亞納米分辨率晶圓幾何量測系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    中圖儀器WD4000亞納米分辨率晶圓幾何量測系統(tǒng)通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓幾何量測系統(tǒng)高分辨率晶圓量測系統(tǒng)晶圓量測系統(tǒng)晶圓量測設備半導體晶圓量測系統(tǒng)
    2025/4/7 20:44:26741

  • 晶圓厚度晶圓翹曲度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    中圖儀器WD4000晶圓厚度晶圓翹曲度測量儀通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓厚度測量儀晶圓翹曲度測量儀無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓幾何形貌測量儀
    2025/4/7 19:54:32949

  • 晶圓三維形貌測量設備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    中圖儀器WD4000晶圓三維形貌測量設備采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LT...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓檢測設備晶圓測量設備三維形貌測量儀晶圓形貌測量設備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)
    2025/4/7 19:17:42809

  • 無圖晶圓厚度翹曲度粗糙度測量機 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    中圖儀器WD4000無圖晶圓厚度翹曲度粗糙度測量機通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓測量機晶圓測量設備晶圓粗糙度測量機
    2025/4/7 18:34:40823

  • 國產(chǎn)晶圓幾何形貌量測設備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000國產(chǎn)晶圓幾何形貌量測設備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV、BOW、WARP、在高效測量測同時有效...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓幾何形貌量測設備晶圓幾何量測設備晶圓形貌量測設備晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓量測設備
    2025/4/7 17:32:42983

  • 晶圓平整度翹曲度測量設備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000晶圓平整度翹曲度測量設備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓測量設備晶圓平整度測量設備晶圓翹曲度測量設備晶圓幾何量測設備晶圓形貌測量設備
    2025/4/7 17:07:141159

  • 半導體晶圓量測設備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    中圖儀器WD4000半導體晶圓量測設備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    半導體晶圓量測系統(tǒng)無圖晶圓形貌測量設備晶圓幾何形貌測量系統(tǒng)晶圓形貌測量系統(tǒng)半導體晶圓檢測設備
    2025/4/7 16:21:20899

  • 無圖晶圓幾何形貌測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000無圖晶圓幾何形貌測量系統(tǒng)是通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    無圖晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓幾何形貌測量系統(tǒng)晶圓形貌測量設備晶圓形貌檢測晶圓測量設備
    2025/4/7 15:52:35879

  • 晶圓厚度高精度測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000晶圓厚度高精度測量系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、B...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓厚度測量系統(tǒng)晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓厚度測量半導體晶圓測量
    2025/4/7 15:19:32835

  • 晶圓測量設備幾何形貌測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000晶圓測量設備幾何形貌測量系統(tǒng)通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓測量設備晶圓幾何測量系統(tǒng)晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓幾何量測設備晶圓形貌測量設備
    2025/4/7 14:35:56884

  • 無圖晶圓幾何形貌測量設備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000無圖晶圓幾何形貌測量設備采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓形貌測量設備晶圓幾何測量設備晶圓測量設備無圖晶圓幾何測量設備無圖晶圓形貌測量設備
    2025/4/7 14:04:35999

  • 半導體量檢測設備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000半導體量檢測設備采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    半導體量測設備半導體檢測設備半導體晶圓檢測設備半導體晶圓量測系統(tǒng)半導體幾何量測系統(tǒng)
    2025/4/7 13:27:55973

  • 晶圓形貌測量設備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000晶圓形貌測量設備自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。能實現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、平面度、線粗糙度、總體厚度變化(TT...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)無圖晶圓形貌測量設備晶圓測量設備晶圓幾何形貌測量設備晶圓測量系統(tǒng)
    2025/4/7 12:43:14947

  • 晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000晶圓厚度測量系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓厚度形貌測量系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓幾何形貌測量系統(tǒng)晶圓厚度量測設備晶圓表面形貌測量系統(tǒng)
    2025/4/7 12:27:191107

  • 晶圓表面形貌檢測設備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000系列晶圓表面形貌檢測設備采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，自動測量Wafer厚度、表面粗...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓檢測設備晶圓形貌檢測設備半導體晶圓檢測設備晶圓幾何量測設備無圖晶圓幾何量系統(tǒng)
    2025/4/7 11:34:081125

  • 半導體晶圓檢測設備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000系列半導體晶圓檢測設備采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，能實現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    半導體檢測設備晶圓檢測設備晶圓形貌測量設備晶圓幾何量測設備半導體晶圓測量設備
    2025/4/7 11:13:141198
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