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OLED光譜分析系統(tǒng)主要測試功能有哪些?

閱讀:2055        發(fā)布時間:2021/9/9
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OLED光譜分析系統(tǒng)用于測量OLED、鈣鈦礦LED及其其他發(fā)光器件的發(fā)射光譜特性和極化角,同事也可測量器件的s和p偏振光譜、發(fā)射光譜與角度的關系,計算出發(fā)射層中激子的發(fā)光角度及位置分布。

OLED光譜分析系統(tǒng)主要測試功能:


1、OLED效率測量/外量子效率EQE測量,流明效率Lm/W 和 發(fā)光效率Cd/A;


2、發(fā)射角度測量;


3、光譜&顏色測量@發(fā)射角;


4、CIE xyY測量;


5、視角測量;


6、IVL(電流—電壓—亮度)測量;


7、PL光致發(fā)光測量功能(有機、量子點、鈣鈦礦薄膜發(fā)射光譜和極化角度);


8、EL電致發(fā)光測量功能(OLED\鈣鈦礦LED和其他發(fā)光器件);


9、極化測量;


10、發(fā)射角對應的光譜和顏色;


11、可與Setfos組合,隨發(fā)射層進行分析;


12、擬合發(fā)光器件的發(fā)射區(qū)、分子取向和發(fā)光方向。

 

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