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進(jìn)行繼電保護(hù)裝置測(cè)試時(shí)，繼電保護(hù)測(cè)試儀的開(kāi)入量與保護(hù)裝置動(dòng)作與否、動(dòng)作時(shí)間等息息相關(guān)。 現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)繼電保護(hù)跳了，但繼保測(cè)試儀未收到動(dòng)作接點(diǎn)，檢查開(kāi)入接線、保護(hù)動(dòng)作均良好，單獨(dú)短接開(kāi)入量進(jìn)行測(cè)試時(shí)也顯示正常。 針對(duì)此類問(wèn)題，我們可以從開(kāi)入量的原理入手進(jìn)行分析?！ ?/p>
△ 圖1 開(kāi)入量端子原理圖
△ 圖2 無(wú)電位接點(diǎn) △ 圖3 帶電位接點(diǎn)
圖1以開(kāi)入A舉例說(shuō)明，其他路開(kāi)入量與開(kāi)入A原理相同，并共用電源和COM端。 設(shè)圖中電壓源電壓為 U1，圖1中O1為光耦，光耦負(fù)邊通至測(cè)試裝置主板，當(dāng)光耦由通變斷或由斷變通，即光耦的通斷狀態(tài)有變化時(shí)，測(cè)試儀會(huì)記錄光耦狀態(tài)變化瞬間的時(shí)刻。
此電路的工作原理： O1最小導(dǎo)通電流為Imin，最大工作電流為Imax，回路電流為I，當(dāng)I≥Imin，時(shí)，O1導(dǎo)通，IImax時(shí)，電路燒壞。 下面我們以不帶電位接點(diǎn)(圖 2)和帶電位接點(diǎn)(圖3)兩種情況進(jìn)行說(shuō)明。
直接從保護(hù)裝置跳閘端子接線，未引入直流電源回路。 試驗(yàn)時(shí)可能會(huì)出現(xiàn)兩種接法：
1、取1、2兩點(diǎn)接入測(cè)試裝置的開(kāi)入量COM、A，由于無(wú)電位，兩點(diǎn)接線可以任意交換。 此時(shí)，若開(kāi)關(guān)為分，電路開(kāi)路， I=0，光耦不通。 當(dāng)保護(hù)裝置給出跳閘信號(hào)時(shí)，圖中開(kāi)關(guān)會(huì)由分到合，此時(shí) ，(U1、R1、R2的值固定)光耦導(dǎo)通，測(cè)試裝置記錄動(dòng)作。 此種接法進(jìn)行測(cè)試時(shí)通常不會(huì)出現(xiàn)異常。
2、當(dāng)從1、3兩點(diǎn)接入時(shí)，回路中多串入一個(gè)電阻R，此時(shí) ，電流I的大小取決于R，R越大，I越小，當(dāng)R足夠大導(dǎo)致I
2、COM接點(diǎn)1，A接點(diǎn)3，此種情況開(kāi)關(guān)未閉合時(shí)電流 ，光耦不通。 當(dāng)保護(hù)跳閘，開(kāi)關(guān)閉合時(shí)，開(kāi)關(guān)兩端電壓為 0V，此時(shí)電流 ，光耦還是不通，測(cè)試裝置無(wú)法記錄動(dòng)作，因此此種接法錯(cuò)誤。
3、COM接點(diǎn)2，A接點(diǎn)3，此種情況開(kāi)關(guān)未閉合時(shí)，電流 ，若R較小，能使I≥Imin，則光耦導(dǎo)通，當(dāng)保護(hù)跳閘，開(kāi)關(guān)閉合時(shí)，電阻R上的電壓UR=U2，電流 ，光耦不通。 這樣光耦由通變?yōu)椴煌?，狀態(tài)有變化，測(cè)試裝置能正常記錄動(dòng)作時(shí)間。 若 R較大，使得開(kāi)關(guān)未閉合時(shí)電流 ，光耦不通，此種情況無(wú)論開(kāi)關(guān)是否閉合，光耦均不通，測(cè)試裝置無(wú)法正常記錄保護(hù)動(dòng)作。 因此此種接法和不帶電位的第二種接法一樣，能否正常測(cè)試均取決于 R的大小，一般不建議采用。
除此之外，還有其他接線方法以及純電位高低的測(cè)試，其原理和以上列舉的基本類同，不再贅述。
綜上所述，現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí)，無(wú)論是不帶電位接點(diǎn)還是帶電位接點(diǎn)，接線盡量采用兩種情況下列舉的第一種接線方式，通常不會(huì)出現(xiàn)異常。 無(wú)法正常記錄時(shí)，可以甩開(kāi)保護(hù)接線，在測(cè)試裝置運(yùn)行時(shí)用短接線直接對(duì) A和COM短接，若測(cè)試裝置能正常記錄動(dòng)作，則可以排除繼保測(cè)試儀的故障。
