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进行继电?；ぷ爸貌馐允?，继电?；げ馐砸堑目肓坑氡；ぷ爸枚饔敕?、动作时间等息息相关。 现场试验经?；岢鱿旨痰绫；ぬ?，但继保测试仪未收到动作接点，检查开入接线、?；ざ骶己茫ザ蓝探涌肓拷胁馐允币蚕允菊?。 针对此类问题，我们可以从开入量的原理入手进行分析?！ ?/p>
△ 图1 开入量端子原理图
△ 图2 无电位接点 △ 图3 带电位接点
图1以开入A举例说明，其他路开入量与开入A原理相同，并共用电源和COM端。 设图中电压源电压为 U1，图1中O1为光耦，光耦负边通至测试装置主板，当光耦由通变断或由断变通，即光耦的通断状态有变化时，测试仪会记录光耦状态变化瞬间的时刻。
此电路的工作原理： O1最小导通电流为Imin，最大工作电流为Imax，回路电流为I，当I≥Imin，时，O1导通，IImax时，电路烧坏。 下面我们以不带电位接点(图 2)和带电位接点(图3)两种情况进行说明。
直接从?；ぷ爸锰⒍俗咏酉?，未引入直流电源回路。 试验时可能会出现两种接法：
1、取1、2两点接入测试装置的开入量COM、A，由于无电位，两点接线可以任意交换。 此时，若开关为分，电路开路， I=0，光耦不通。 当保护装置给出跳闸信号时，图中开关会由分到合，此时 ，(U1、R1、R2的值固定)光耦导通，测试装置记录动作。 此种接法进行测试时通常不会出现异常。
2、当从1、3两点接入时，回路中多串入一个电阻R，此时 ，电流I的大小取决于R，R越大，I越小，当R足够大导致I
2、COM接点1，A接点3，此种情况开关未闭合时电流 ，光耦不通。 当?；ぬⅲ乇蘸鲜?，开关两端电压为 0V，此时电流 ，光耦还是不通，测试装置无法记录动作，因此此种接法错误。
3、COM接点2，A接点3，此种情况开关未闭合时，电流 ，若R较小，能使I≥Imin，则光耦导通，当?；ぬ?，开关闭合时，电阻R上的电压UR=U2，电流 ，光耦不通。 这样光耦由通变为不通，状态有变化，测试装置能正常记录动作时间。 若 R较大，使得开关未闭合时电流 ，光耦不通，此种情况无论开关是否闭合，光耦均不通，测试装置无法正常记录?；ざ?。 因此此种接法和不带电位的第二种接法一样，能否正常测试均取决于 R的大小，一般不建议采用。
除此之外，还有其他接线方法以及纯电位高低的测试，其原理和以上列举的基本类同，不再赘述。
综上所述，现场试验时，无论是不带电位接点还是带电位接点，接线尽量采用两种情况下列举的第一种接线方式，通常不会出现异常。 无法正常记录时，可以甩开?；そ酉撸诓馐宰爸迷诵惺庇枚探酉咧苯佣?A和COM短接，若测试装置能正常记录动作，则可以排除继保测试仪的故障。
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