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　　透射電子顯微鏡是一種提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。透射電子顯微鏡原位電學性能測試系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操控和電學測量。

　　原位樣品桿適合ETEM和TEM中的原位高溫實驗，其對功率消耗和樣品熱漂移進行了優(yōu)化以獲得好的性能。該樣品桿的高性能原材料和熱管理系統(tǒng)可幫助科學家對高溫下的樣品進行原子分辨率的快速拍照與觀察。能夠在透射電鏡（TEM）內(nèi)為樣品提供可加熱的氣氛環(huán)境。使得TEM能夠觀察樣品的微觀結構（例如原子結構）在氣氛環(huán)境中的演變過程，以直接揭示樣品結構與其氣固界面反應性質(zhì)之間的科學關系。

　　原位樣品桿能夠在透射電鏡內(nèi)完成原位加熱，電學以及加熱電學同時進行的相關實驗。

　　原位樣品桿可幫助科學家對流動或靜態(tài)液體進行原子分辨率的觀察。隨著科學技術的飛速發(fā)展，普通透射電鏡（TEM）已經(jīng)不能滿足科學家的科研需求。而在透射電鏡基礎上發(fā)展而來的原位技術，能夠突破現(xiàn)有透射電鏡對于真空度要求的限制，利用現(xiàn)有電鏡平臺即可完成原位氣體環(huán)境及加熱功能，使科研工作者能夠在更寬的參數(shù)（氣體，氣壓，溫度）范圍內(nèi)研究材料。大大的拓展了透射電鏡的應用范圍，有效提高科學家原位納米尺度的研究手段。