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當(dāng)前位置:工業(yè)物理>>技術(shù)文章>>手機屏幕也有涂層?SpecMetrix帶你探索玻璃表面的“隱形防護層”
你知道嗎?我們每天手握的手機屏幕上,可能也隱藏著一層“看不見的涂層"。它或許與手感、反光、耐刮、抗污有關(guān),但究竟有沒有?能不能測?怎么測?
工業(yè)物理技術(shù)團隊決定來一次探索性實測:我們選取了幾臺市面上的常見品牌手機,嘗試用 SpecMetrix® ROI 增強光學(xué)干涉膜厚測量系統(tǒng),測量手機屏幕表面可能存在的涂層厚度。這是一場從假設(shè)出發(fā)的測試,也是 SpecMetrix 在玻璃涂層領(lǐng)域的一次“好奇心驅(qū)動的實驗"。
本次測試由工業(yè)物理中國上海實驗室團隊執(zhí)行,選取2臺華為手機與2臺蘋果手機,使用旗下 SpecMetrix® 實驗室版涂層厚度分析儀,采用非接觸式光學(xué)干涉技術(shù),對每臺手機屏幕選定區(qū)域進行了5次重復(fù)測量,測量波長為1051–1710nm,涂層折射率設(shè)定為1.55。
?? 測試結(jié)果如下圖所示(單位:μm):
結(jié)論令人驚喜:四臺手機測得的涂層厚度均集中在 13μm左右,雖然涂層成分未知,但可以初步推測玻璃表面確實存在一層功能性涂層。
SpecMetrix® 系統(tǒng)基于ROI增強光學(xué)干涉技術(shù),相比傳統(tǒng)白光干涉方法,具備更強適應(yīng)性與穩(wěn)定性,尤其適合于:
• 有色、透明、多層涂層材料
• 非接觸測量、高重復(fù)性要求的精密工藝
?? 核心技術(shù)優(yōu)勢包括:
• 非接觸 · 非破壞式測量,支持透明/有色/復(fù)合涂層
• 測量范圍廣:0.3–250μm,適配各類膜材
• 小光斑高精度:典型測量點為1 mm2,支持掃描平均
• 免校準(zhǔn)、高效率:自動分析干涉光譜,快速輸出絕對膜厚
• ASTM D8331標(biāo)準(zhǔn)認證:全球認可的專業(yè)測量標(biāo)準(zhǔn)
為了驗證貼膜對測量的影響,我們還測試了市售鋼化膜在撕開保護膜前后的厚度變化。結(jié)果發(fā)現(xiàn):
同一片貼膜,在撕膜前后的膜厚數(shù)據(jù)不同。我們初步判斷,這可能源于膠水層因形變/應(yīng)力釋放產(chǎn)生厚度差異——這再次印證了 SpecMetrix 對極薄層/膠層變化極為敏感。
雖然我們尚無法判斷這層13μm涂層的具體成分,也無法通過成品手機屏幕了解涂層分布結(jié)構(gòu),但可以確定的是:
SpecMetrix® 可以穩(wěn)定測得玻璃屏幕上的涂層厚度,并為消費電子表面處理質(zhì)量控制提供可能的測量依據(jù)。
想進一步了解其在玻璃蓋板、涂層功能膜、觸控模組、AR/AG/AF處理層的測試潛力?我們歡迎更多供應(yīng)鏈客戶提供中間產(chǎn)物樣品,一起推動“屏幕涂層測得準(zhǔn)"的未來落地。
工業(yè)物理旗下 SpecMetrix® 涂層厚度分析系統(tǒng)憑借其非接觸、亞微米級、實時數(shù)據(jù)測量能力,為我們帶來了這次探索性驗證的結(jié)果:
?? 手機屏幕表面確實存在平均厚度約13μm的涂層
?? 測量數(shù)據(jù)高度一致,干涉信號清晰穩(wěn)定
?? SpecMetrix 可適配實驗室快速驗證、研發(fā)支持及未來生產(chǎn)質(zhì)量閉環(huán)應(yīng)用
我們歡迎更多電子顯示行業(yè)、玻璃蓋板工藝、功能性涂層領(lǐng)域的客戶來挑戰(zhàn)SpecMetrix的極限測量能力。
?? 工業(yè)物理中國總部位于上海浦東,并在香港設(shè)有亞太技術(shù)與服務(wù)中心,可提供現(xiàn)場演示、樣品寄測及應(yīng)用方案研討。歡迎您到訪交流或聯(lián)系試樣演示,共探涂層厚度檢測的更多可能!
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