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薄膜介电常数仪介质损耗测试仪计算公式

Cx=R4×  Cn / R3    R4[Ω]  R3[Ω]  Cn[pF]  Cx[pF]

tgδ=ω·R4·C4     R4[Ω]  C4[F]

当R4=10K/π

tgδ=C4     

当R4=1K/π

tgδ=0.1C4  

我们采取相对固定R4电阻，分别调节R3和C4使桥跟平衡，从而测得试品的电容值Cx和介质损耗tg。本电桥为了直读出损耗值，取电阻R4的阻值为角频率（f=50Hz）若干倍。

薄膜介电常数仪介质损耗测试仪操作规程

1.      本仪器必须有专人负责保管，使用，非专职操作者应在使用前了解和熟悉本说明书，以免造成不必要的损失和事故。

2.      每次使用前应仔细检查接地线是否完好，确保以后方可通电使用。

3.      接通电源前应将灵敏度开关调到低位置。

4.      测量试品前应先对试品进行高压试验，证明在电桥工作电压下无噪声，电离等现象出现，然后才能进行测试（若试品己做过高压试验，该项可不必每次测量都做）。

5.      对试品施加高压时缓慢升高，不可以加突变电压。

6.      测试时操作人员必须集中思想，工作前做好一切准备工作，测试地点周围应有明显的标记或金属屏蔽围成高压危险区，以防止非操作人员闯入。

7.      在测量过程中，如有放电管发光时，则必须及时切断电源，仔细检查接线及试品都无击穿，待检查排除故障后，再进行高压测量工作。

能对固体绝缘材料在100kHz～100MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态，调谐电容值等。

Q值量程自动/手动量程控制。