塊狀或薄膜樣品需測(cè)量準(zhǔn)確厚度，棒狀樣品需記錄橫截面積。
?設(shè)備檢查?
連接測(cè)試探頭電纜與主機(jī)，檢查探針是否完好（碳化鎢探針無(wú)斷裂、氧化）。
確認(rèn)恒流源、電壓表和接地線正常工作，避免短路或接觸不良。
?開機(jī)與預(yù)熱?
接通電源，開啟主機(jī)開關(guān)，預(yù)熱15分鐘至電路穩(wěn)定。
選擇測(cè)試模式（如電阻率、方阻或薄層電阻）。
?探針安裝與接觸?
?直線或矩形排列?：根據(jù)樣品形狀調(diào)整探針間距（常規(guī)間距1-2mm），確保四探針均勻接觸樣品表面。
?壓力控制?：通過(guò)彈簧裝置或高度調(diào)節(jié)旋鈕施加適中壓力（避免劃傷樣品或接觸不良）。
?參數(shù)設(shè)置?
?電流選擇?：根據(jù)材料導(dǎo)電性設(shè)置恒流源（如半導(dǎo)體用0.5-1mA，金屬用1-2mA）。
?修正系數(shù)輸入?：輸入幾何修正系數(shù)或選擇預(yù)設(shè)模型（薄片/三維樣品）。
?測(cè)試執(zhí)行?
啟動(dòng)恒流源，注入電流并測(cè)量?jī)?nèi)側(cè)兩探針的電壓差。
觀察數(shù)據(jù)穩(wěn)定性，重復(fù)測(cè)量3次取平均值以減少誤差。
?數(shù)據(jù)處理?
儀器自動(dòng)計(jì)算電阻率并直接顯示結(jié)果。復(fù)雜形狀樣品需結(jié)合有限元模擬修正系數(shù)或查表校準(zhǔn)。
?校準(zhǔn)步驟?
使用標(biāo)準(zhǔn)電阻片驗(yàn)證儀器精度，調(diào)整參數(shù)直至誤差<1%。定期檢查探針磨損情況，更換斷針時(shí)確保銅片與絕緣片按原順序排列。
?設(shè)備維護(hù)?
測(cè)試后關(guān)閉電源，斷開探頭電纜并存放在干燥環(huán)境中。清潔探針表面殘留物，避免氧化影響導(dǎo)電性。
?接觸問(wèn)題?
探針與樣品需垂直接觸，避免傾斜導(dǎo)致接觸面積不均。高阻材料測(cè)量時(shí)需延長(zhǎng)穩(wěn)定時(shí)間，減少環(huán)境靜電干擾。
?電流選擇?
免電流過(guò)大導(dǎo)致樣品發(fā)熱（影響電阻率真實(shí)性）或過(guò)小導(dǎo)致信噪比不足。
?環(huán)境控制?
實(shí)驗(yàn)室溫度建議控制在25±2°C，濕度<60%以保障數(shù)據(jù)一致性。
通過(guò)規(guī)范操作流程與定期校準(zhǔn)，四探針電阻測(cè)試儀可精準(zhǔn)獲取材料電學(xué)特性參數(shù)。
電壓擊穿測(cè)試儀，體積表面電阻率測(cè)試儀，介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀，漏電起痕試驗(yàn)儀，耐電弧試驗(yàn)儀，TOC總有機(jī)碳分析儀，完整性測(cè)試儀，無(wú)轉(zhuǎn)子硫化儀，門尼粘度試驗(yàn)機(jī)，熱變形維卡溫度測(cè)定儀，簡(jiǎn)支梁沖擊試驗(yàn)機(jī)，毛細(xì)管流變儀，橡膠塑料滑動(dòng)摩擦試驗(yàn)機(jī)，氧指數(shù)測(cè)定儀，水平垂直燃燒試驗(yàn)機(jī)，熔體流動(dòng)速率測(cè)定儀，低溫脆性測(cè)試儀，拉力試驗(yàn)機(jī)，海綿泡沫壓陷硬度測(cè)試儀，海綿泡沫落球回彈測(cè)試儀，海綿泡沫壓縮永九變形試驗(yàn)儀
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