日本topcon-techno分光辐射计SR-LEDW-5N
本产品量程极为宽广，低可测亮度低至0.0005cd/m²,可用于评价体现黑画面品质的超高对比度；
z高可测亮度高达5,000,000cd/m²,适用于评价超高亮度级LED的光学特性，是目前行业内的领xian产品，
同时也是TOPCON SR系列产品中的旗舰机型。

日本topcon-techno分光辐射计SR-LEDW-5N

 

产品概要

本产品量程极为宽广，低可测亮度低至0.0005cd/m²,可用于评价体现黑画面品质的超高对比度；
z高可测亮度高达5,000,000cd/m²,适用于评价超高亮度级LED的光学特性，是目前行业内的产品，同时也是TOPCON SR系列产品中的旗舰机型。通过新搭载的FIX模式，实现了测定条件的自动化功能，从而大幅缩短了测定同一样品时的连续测定时间。本产品，不仅仅可应用于目前在市场上急剧扩张的LED背光模组的设计与研发，同样适用于生产流水线上的高效率、高精度管理。

特点

? 量程特别宽广，宽至0.0005～5,000,000cd/m²。
? 搭载FIX模式，可大幅缩短生产线上的连续测定时间(和本公司原有产品比较，可缩短1/2时间)
? 提升了灵敏度的均衡性能，从而能轻松测定LED芯片。
? 装上照度接口（选配件）后，还能够测定照度（lx）。
? 光谱波宽、半波宽5nm。

主要用途

? LED背光、LED照明器具的亮度?色度，以及色温度特性，显色性评价。
? LCD、OLED等，显示器的亮度?色度，色温度特性等所有光学特性评价指标。
? 车载头灯、尾灯等、LED照明器具的亮度?色度的高精度测定。
? 作为光学特性评价探头，搭载于各类自动测量机台上。

日本topcon-techno分光辐射计SR-LEDW-5N

技术规格

光亮采集	电子冷却型线性阵列传感器
波长分散原理	衍射光栅
光学系统	对物镜 : f= 82mm F2.5, 目镜 : 观测视野 5°
测定角	2°/1°/0.2°/0.1° *电动切换式
测定距离	350mm – ∞ (从物镜金属件前端开始的距离)
光谱波宽	5nm *半波宽
波长精度	0.3nm *Hg 波宽线上
测定波长范围	380 – 780nm
波长分解能力	1nm
测定模式	自动/手动 (积分时间/频率) / 外部垂直同步信号输入
测定内容	分光辐射亮度 : W?sr-1?m-2?nm-1
演算内容	辐射亮度 Le : W?sr-1?m-2, 亮度 Lv : cd?m-2, CIE1931 色度坐标 xy, CIE1976 色度坐标 u’ v’, 三刺激值 XYZ, 相关色温度,偏差 CIE 表色系 2°/ 10°
亮度测定范围(*1) (*2)	2°：0.0005 – 1,500,000 cd/m2 　1°：0.0015 – 4,500,000 cd/m2 0.2°：0.0375 – 5,000,000 cd/m2 0.1°：　0.15 – 2,000,000 cd/m2
亮度精度(*1)	±2% 以下
色度精度 (*1)	±0.002
重复精度: 亮度(*3)	1.5% ： 0.0005～0.005 cd/m² 0.4% ： 0.005～0.1 cd/m² 0.3% ： 0.1 cd/m²以上
重复精度: 色度(*4)	0.005 ： 0.0005～0.005 cd/m² 0.0015 ： 0.005～0.1 cd/m² 0.0005 ： 0.1 cd/m²以上
偏光特性	亮度 : 1％ 以下, 分光辐射亮度 : 2％ 以下 (400 – 780nm)
测定时间(*5)	NORMAL 模式: 约1 – 248秒 HIGH SPEED 模式: 约1 – 17秒
界面	RS-232C, USB 2.0
电源	AC 电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz
功率	约 36W
使用条件	温度: 5 – 30℃, 湿度: 80%RH 以下 (且无凝露)
外形尺寸 (W×D×H)	150×406×239mm
质量	约 5.5kg

*1 针对标准A光源
*2 NORMAL SPEED模式测定时的测定范围
*3 测定角2°、连续测量10次2σ、NORMAL SPEED模式
*4 测定角2°、连续测量10次（大值-小值）、NORMAL SPEED 模式
*5 和PC的通信时间除外