日本stil線陣視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)MC2
MC2線陣視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)完美地解決了傳統(tǒng)機(jī)器視覺(jué)在表面瑕疵檢測(cè)的痛點(diǎn)，具有明顯的優(yōu)勢(shì)：
v 無(wú)需外接光源照明，光譜共焦傳感器的光源即為檢測(cè)所需的同軸光源；
v 環(huán)境光線的變化不影響成像效果，適應(yīng)性強(qiáng)；

日本stil線陣視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)MC2

MC2線陣視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)完美地解決了傳統(tǒng)機(jī)器視覺(jué)在表面瑕疵檢測(cè)的痛點(diǎn)，具有明顯的優(yōu)勢(shì)：

v 無(wú)需外接光源照明，光譜共焦傳感器的光源即為檢測(cè)所需的同軸光源；
v 環(huán)境光線的變化不影響成像效果，適應(yīng)性強(qiáng)；
v 適應(yīng)所有的物體表面，無(wú)論是漫反射表面，鏡面（高光面）或者透明物體表面； 
v 高達(dá)80KHz的掃描速度，并可實(shí)現(xiàn)非常低的像素尺寸(小像素可達(dá)0.2×0.2μm2)；
v gao可至2.6mm的高景深，在景深范圍內(nèi)的任何一個(gè)位置都是完美聚焦，成像更為清晰且無(wú)需進(jìn)行Z軸對(duì)焦。

優(yōu)勢(shì)：
v 無(wú)需外接光源照明，光譜共焦傳感器的光源即為檢測(cè)所需的同軸光源；
v 環(huán)境光線的變化不影響成像效果，適應(yīng)性強(qiáng)；
v 適應(yīng)所有的物體表面，無(wú)論是漫反射表面，鏡面（高光面）或者透明物體表面； 
v 高達(dá)80KHz的掃描速度，并可實(shí)現(xiàn)非常低的像素尺寸(小像素可達(dá)0.2×0.2μm2)；
v gao可至2.6mm的高景深，在景深范圍內(nèi)的任何一個(gè)位置都是完美聚焦，成像更為清晰且無(wú)需進(jìn)行Z軸對(duì)焦。

日本stil線陣視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)MC2

MC2四種鏡頭配置參數(shù):
產(chǎn)品型號(hào)		MC2-701-N1	MC2-702-N1	MC2-703-N1	MC2-704-N1	MC2-705-N1	MC2-706-N1	MC2-707-N1	MC2-708-N1
示例	unit	NanoView 2K	NanoView 4K	MicroView 2K	MicroView 4K	DeepView 2K	DeepView 4K	WireView 2K	WireView 4K
線長(zhǎng)	mm	1.35		1.8		4		1.5
景深	µm	100		500		2600		900
工作距離	mm	4.6		10		47.8		7.8
放大率		17.3		12.5		5.6		15.6
數(shù)值孔徑		0.7		0.5		0.35		0.75
大樣本斜率	°	40		30		20		46
樣本像素大小	µm	0.82	0.41	1.12	0.56	2.5	1.23	0.9	0.45
光學(xué)頭: 長(zhǎng)度	mm	413.8	393.3	402.6	382.1	422.9	403.9	457.7	437.2
光學(xué)頭: 直徑	mm	50		50		75		70
光學(xué)頭: 重量	g	-	-	-	-	-	-