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詳細(xì)摘要： 日本cho-onpa桌面分離型超聲波清洗機26/38 CPS系列新型掃頻型振蕩器用于傳統(tǒng)清潔器。它改善了掃描和脈沖振蕩等功能，并實現(xiàn)了環(huán)境友好性（符合RoHS指...

詳細(xì)摘要： 日本cho-onpa超音波工業(yè)超聲波清洗機USV-1500Z15S使用金屬棒（立柱，方柱等）稱為喇叭，以增加振動器的振幅，并且產(chǎn)生的振動是振動板法的十倍以上，從...

詳細(xì)摘要： 日本cho-onpa超音波工業(yè)超聲波聲速測量裝置UVM-2它是一種通過金屬，陶瓷，單晶，塑料和液體等各種材料傳輸超聲波脈沖的設(shè)備，并通過單步法測量聲速來高精度地...

詳細(xì)摘要： 日本cho-onpa超音波工業(yè)高精度超聲波密度計UAM-4 MKII超聲波密度計可以連續(xù)在線測量懸浮液的濃度。由于不受顏色，pH或電導(dǎo)率的影響，因此可以測量各種...

詳細(xì)摘要： 日本cho-onpa超聲波堰式流量計/檢漏儀ULM-501超聲波堰式流量計根據(jù)JIS B8302在水道上安裝“咳嗽（三角堰，方堰，全寬堰）"或水槽，并在上游側(cè)測...

詳細(xì)摘要： 日本cho-onpa超音波工業(yè)超聲波水位差計ULM-520/ULM-530接收到的回波圖案被轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)并存儲，并且使用接收到的波識別算法和統(tǒng)計處理執(zhí)行高精度...

詳細(xì)摘要： 日本cho-onpa超音波工業(yè)2線式超聲波液位計ULM-20R超聲波液位計測量空氣傳播的時間，直到安裝在要測量的液體表面上方的傳感器發(fā)出的超聲波反射到要測量的表...

詳細(xì)摘要： 日本cho-onpa超音波工業(yè)超聲波液位計ULM-500系列超聲波液位計從傳播時間開始持續(xù)測量儲罐液位和距離，直到從傳感器發(fā)出的超聲波脈沖在空氣中傳播，在測量表...

詳細(xì)摘要： 日本cho-onpa超音波工業(yè)超聲波攪拌機USH-20Z20S/USH-1000Z20S超聲波均化器可以容易地乳化和分散甚至難以通過機械攪拌混合的水和油，水和顏...

詳細(xì)摘要： 日本SEM超小型新型 2 軸精密數(shù)字水平儀SELN-001B您可以進(jìn)行調(diào)整，就像在查看監(jiān)視器屏幕時看著氣泡水平一樣。非常適合精密設(shè)備，半導(dǎo)體制造設(shè)備等的水平調(diào)節(jié)...

詳細(xì)摘要： 日本小倉珠寶ogura半導(dǎo)體制造用精密夾具在半導(dǎo)體制造過程中，需要多樣化，包括芯片小型化和超薄化，并且在制造過程中使用了各種各樣的精密夾具。我們利用高硬度材料等...

詳細(xì)摘要： 日本小倉珠寶ogura藍(lán)寶石水射流噴嘴超高壓水刀的應(yīng)用范圍很廣，包括清潔，剝落和提升混凝土，去除樹脂毛刺和切割紙張。我們開發(fā)了“藍(lán)寶石水射流噴嘴"，該噴嘴可為超...

詳細(xì)摘要： 日本ogura用于工件上雕刻和繪制的鉆石筆鉆石筆是一種敲擊型筆，在筆尖使用鉆石。鉆石在地球上具有g(shù)ao的硬度，可以在各種工件上雕刻和繪制。D點筆和D筆可提供不同...

詳細(xì)摘要： 日本小倉珠寶ogura單晶金剛石咬口銑刀我們充分利用記錄針制造中培育的先進(jìn)單晶鉆石精細(xì)加工技術(shù)，提供適用于精密零件和精密模具加工的具有鋒利切削刃的單晶鉆石叮咬和...

詳細(xì)摘要： 日本ogura樹脂，金屬，電鍍金屬結(jié)合輪研磨高硬度材料PCD（金剛石燒結(jié)體），PCBN（CBN燒結(jié)體），金剛石，陶瓷，超硬合金，藍(lán)寶石，紅寶石，水晶，玻璃等。

詳細(xì)摘要： 日本小倉珠寶ogura陶瓷結(jié)合劑CBN砂輪CBN Ernest Boy陶瓷結(jié)合劑CBN砂輪“ CBN Ernest Boy"是通過應(yīng)用Ernest Boy的技術(shù)...

詳細(xì)摘要： 日本小倉珠寶ogura陶瓷結(jié)合劑金剛石砂輪Ernest Boy陶瓷結(jié)合劑金剛石砂輪“ Ernest Boy"是我公司為金剛石加工優(yōu)化的砂輪，多年來，該公司一直是...

詳細(xì)摘要： 日本napson硅片晶圓平整度測量系統(tǒng)FLA-200非接觸式平面度/厚度測量系統(tǒng)。測量晶片樣品的平整度（TTV，BOW，WARP）和厚度。-支持測量厚度，TTV...

詳細(xì)摘要： 日本napsonμ非接觸式光學(xué)膜厚測量系統(tǒng)FilmTek 1000該公司的產(chǎn)品可以執(zhí)行非接觸，非破壞性和高精度的折射率測量，半導(dǎo)體，光電，數(shù)據(jù)存儲，平板，MEM...

詳細(xì)摘要： 日本napsonμ非接觸μ-PCD法測量硅片磚壽命非接觸/無損壽命測量與單晶和多晶硅樣品兼容支持多點樣本測量和映射圖像顯示包含激情膠囊（用于威化餅）