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适用于检查光学薄膜、片材、触摸屏等表面划痕、异物、缺陷设备介绍
阅读：795 发布时间：2024-11-13适用于检查光学薄膜、片材、触摸屏等表面划痕、异物、缺陷设备介绍
光学分辨率1.8μm/速度检测！
用于基材和金属表面的缺陷检查！
概述
这是使用高分辨率相机和高精度XY平台的二维检查装置。
适用于检查光学薄膜、片材、触摸屏等表面划痕、异物、缺陷。
光学分辨率为1.8μm，可实现高清检查。
它还可以处理尺寸测量，还可以检查二维冲压产品。
特征
自动保存检测数据和图像
摄像头像素数：900万像素
高光学分辨率（1.8μm）让您可以清晰地看到精细的检查点。
非常适合检查触摸屏的外围电极和印刷电路板上的精细布线是否有断线和短路。
目的
用于检查触摸面板、异物等缺陷！
触控面板周边电极缺陷检测
板材表面划痕及异物检查
电路板缺陷检查
系统配置
