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高溫環(huán)境下檢測用表面壓力分布測試薄膜的特點
閱讀：653 發(fā)布時間：2024-10-11高溫環(huán)境下檢測用表面壓力分布測試薄膜的特點
高溫環(huán)境下的壓力分布和壓力/表面壓力測量薄膜 Prescale for high heat
可在高溫環(huán)境下使用的壓力測量薄膜。可以在產(chǎn)生熱量的環(huán)境下測量壓力機表面的壓力值、壓力分布、平衡和負載值！
高溫標尺是一種壓力測量薄膜，標尺。
與普通的預刻度相比，由于熱而導致的顯色和基底變形得到抑制。這使得在加熱條件下測量壓力成為可能。
使用優(yōu)點
對于正常預分頻
*這是一張圖片。
用于高溫預分頻
*這是一張圖片。
與普通產(chǎn)品相比，可以最大限度地減少因熱而產(chǎn)生的發(fā)色和基材變形。
可以在仍然加熱的環(huán)境中進行測量，從而可以在與制造條件非常相似的環(huán)境中高精度地測量壓力。
它可以縮短制造設備冷卻和加熱所需的時間，有助于提高生產(chǎn)率。