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X熒光光譜儀三種X射線探測器的比較及應(yīng)用

時間:2021/7/6閱讀:2938
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X熒光光譜儀是測定材料發(fā)光性能的基本設(shè)備。主要包括光源、激發(fā)單色器、樣品池、熒光單色器及探測器等主要部件。而探測器是很重要的一環(huán),它的重要作用是接受和分辨信號,由于探測器性能的不同,在選用探測器時,就需要綜合考慮多種因素。
  
  好的探測器不僅需要具有高分辨率和高計數(shù)率,還需要有較寬的元素分析范圍和有效活性區(qū)。其應(yīng)用領(lǐng)域和使用環(huán)境等也是需要關(guān)注之一。
  
  就目前X熒光光譜儀常用的三種X射線探測器而言,產(chǎn)生一個離子對的平均能量,在Si(Li)探測器、流氣式正比計數(shù)器、閃爍計數(shù)器之間大約相差一個量級,而分辨率與統(tǒng)一個光子產(chǎn)生的電子數(shù)的平方根成正比,故三者之間的分辨率也粗略相差三倍。由人射光子在探測器中產(chǎn)生的等價離子對數(shù)目與人射光子能量成正比,與產(chǎn)生離子對的平均能量成反比。
  
  三種X射線探測器的比較:
  
  1、流氣式正比計數(shù)器適用波長范圍0.15~5.0/nm,平均能量/離子對26.4eV,電子數(shù)305/光子,分辨率1.2/keV。
  
  2、NaI閃爍計數(shù)器適用波長范圍0.02~0.2/nm,平均能量/離子對350eV,電子數(shù)23/光子,分辨率3.0/keV。
  
  3、Si(Li)探測器適用波長范圍0.05~0.8/nm,平均能量/離子對3.6cV,電子數(shù)2116/光子,分辨率0.16/keV。
  
  盡管X熒光光譜儀由于使用分光晶體而達到約12eV的分辨率,但新的能量探測器已經(jīng)可達到4eV,在分辨率方面已取得優(yōu)勢。
  
  事實上如果新型能量探測器在計數(shù)率和制造工藝的穩(wěn)定性方面能取得突破,則X熒光光譜儀有可能在未來逐步取代復(fù)雜的波長色散X熒光光譜設(shè)備,成為X熒光光譜分析領(lǐng)域的主流。

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